ปิด Btn

เลือกไซต์ภูมิภาคของคุณ

ปิดหน้านี้

รหัส-04420พัลส์  
โปรเซสเซอร์ดิจิตอล PULSE STEM (2 ช่องสัญญาณ)
รหัส-04440พัลส์  
โปรเซสเซอร์ดิจิตอล PULSE STEM (4 ช่องสัญญาณ)

ระบบพัลส์เป็นการอัพเกรดแบบโมดูลาร์และปรับเปลี่ยนได้เพื่อปรับปรุงความเร็วและความแม่นยำของสัญญาณกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกน โดยแกนหลักคือส่งสัญญาณแอนะล็อกจากเครื่องตรวจจับอิเล็กตรอน ซึ่งรวมถึงเครื่องตรวจจับที่ใช้เทคโนโลยีประกายแสง ระบุเหตุการณ์อิเล็กตรอนแต่ละตัวและส่งกลับเอาต์พุตดิจิทัลเต็มรูปแบบ ผลลัพธ์คือภาพที่มีหน่วยอิเล็กตรอนแต่ละตัวที่ผ่านการปรับเทียบแล้วพร้อมระดับพื้นหลังเป็นศูนย์ที่แท้จริงและสัญญาณรบกวนแบบปัวซองล้วนๆ

คุณสมบัติ

  • เชื่อมต่อกับระบบการรับข้อมูลใดๆ ที่ยอมรับอินพุตดิจิตอล TTL

  • สร้างภาพที่วัดปริมาณได้โดยมีระดับความมืดเป็นศูนย์ที่แท้จริงและสัญญาณรบกวนแบบปัวซองบริสุทธิ์

  • ทำหน้าที่ควบคู่ไปกับเครื่องตรวจจับที่มีอยู่เพื่อรับภาพพร้อมกัน รวมทั้งการสเปกโตรสโคปี

  • มีสองช่องสำหรับการนับอิเล็กตรอนบนเครื่องตรวจจับแยกกันสองตัว

ข้อบ่งชี้จำเพาะ

ฮิตทางช่อง ฮิตทางช่อง
เลขที่ช่อง 2 เข้า 2 ออก 4 เข้า 4 ออก
การเชื่อมต่อ BNC
ช่วงป้อนข้อมูล สูงสุด ±10 โวลต์
ความละเอียดอินพุต 14 บิต
ความต้านทานของอินพุต 50 Ω
อัตราตัวอย่าง 125 Msps (ต่อช่องสัญญาณ)
แรงดันขาออก 3.3V CMOS, 5V TTL
ความถี่เอาท์พุท ความถี่เอาท์พุท
พลัง 5 V (USB-C หรือแจ็คแบบบาร์เรล)
อินเตอร์เฟซการควบคุม อีเธอร์เน็ต RJ45

รูปภาพ

สตรีมข้อมูลดิบจากเครื่องตรวจจับประกายแสง (ด้านบน) และสัญญาณที่แยกความแตกต่าง (ด้านล่าง) เส้นประแนวนอนแสดงตัวอย่างเกณฑ์พร้อมเส้นแนวตั้งแสดงอิเล็กตรอนที่ตรวจพบ ด้านขวาแสดงภาพความเร็วสูงปริมาณรังสีต่ำจากการตรวจจับแบบอะนาล็อกและพัลส์ ซึ่งแสดงการตอบสนองตามเวลาที่ปรับปรุงดีขึ้นเมื่อใช้พัลส์

ภาพขยายต่ำของแผ่น FIB ที่ถ่ายโดยใช้สัญญาณแอนะล็อก (ซ้าย) และสัญญาณพัลส์ (ขวา) สามารถสังเกตเห็นการเคลื่อนตัวช้าๆ ในสุญญากาศในสัญญาณแอนะล็อก

การปรับปรุงอัตราส่วนสัญญาณต่อสัญญาณรบกวน (S/N) ใน STEM โดยใช้วิธีการนับอิเล็กตรอน

ด้วยการติดตั้งอุปกรณ์ประมวลผลดิจิทัล STEM (ID-04420PULSE / ID-04440PULSE) เข้ากับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่งผ่าน ทำให้สามารถบันทึกภาพ STEM โดยใช้การนับอิเล็กตรอนแทนการประมวลผลสัญญาณอนาล็อกแบบเดิม เทคนิคนี้ช่วยให้แสดงภาพที่คมชัดและมีสัญญาณรบกวนน้อยลง โดยเฉพาะอย่างยิ่งในระหว่างการสแกนความเร็วสูง ด้วยการกำจัดแหล่งกำเนิดสัญญาณรบกวนหลัก รวมถึงเอฟเฟกต์แสงเรืองรองที่เกิดขึ้นในตัวตรวจจับ

ซ้าย: STEM แบบดั้งเดิม, ขวา: STEM แบบนับอิเล็กตรอน
 

ฟังก์ชันนี้ยังมีให้บริการในระบบการมอดูเลชั่นแบบอิงเหตุการณ์ระดับสูงกว่า (ID-04320TEMPO / ID-04340TEMPO) อย่างไรก็ตาม เพื่อใช้ประโยชน์จากความสามารถของระบบการมอดูเลชั่นแบบอิงเหตุการณ์อย่างเต็มประสิทธิภาพ จำเป็นต้องใช้ EDM Basic หรือ EDM Synchrony

ปิดหน้านี้
แจ้งให้ทราบ

คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?

โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป

ช่องทางการติดต่อ

เจอีโอแอล ให้บริการสนับสนุนที่หลากหลายเพื่อให้แน่ใจว่าลูกค้าของเราสามารถใช้ผลิตภัณฑ์ของเราได้อย่างสบายใจ
โปรดติดต่อเรา