JEM-2800 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนความเร็วสูง
ยกเลิก
JEM-2800 เป็น TEM/STEM อเนกประสงค์ที่ให้ความสามารถในการใช้งานที่เหนือกว่า ในขณะเดียวกันก็ได้ความละเอียดสูง ปริมาณงานสูง และการวิเคราะห์ที่มีความไวสูง
คุณสมบัติ
โหมดการสังเกตที่หลากหลาย รวมถึง SEM เหมาะสำหรับชิ้นงานทดสอบทุกประเภท
ระบบออปติกอิเล็กตรอนที่ออกแบบใหม่ให้ทั้งการสังเกตที่มีความละเอียดสูงและการวิเคราะห์ปริมาณงานสูง JEM-2800 มีการสลับโหมดการสังเกต TEM, STEM, SEM และ Electron Diffraction อย่างรวดเร็ว และยังช่วยให้สามารถสังเกตในห้องที่มีแสงสว่างได้อีกด้วย ในโหมดสแกนภาพ เราสามารถดูภาพ STEM-BF, STEM-DF และ SE ได้พร้อมกัน ฟังก์ชันนี้ช่วยให้ผู้ปฏิบัติงานได้รับข้อมูลที่หลากหลายของชิ้นงานทดสอบด้วยกำลังขยายที่หลากหลาย ซึ่งสำรวจพื้นที่กว้างไปจนถึงโครงสร้างย่อยระดับนาโน
สภาพแวดล้อมการทำงานที่สนับสนุนโดยระบบอัตโนมัติและการนำทาง
JEM-2800 มีฟังก์ชันอัตโนมัติที่หลากหลาย ได้แก่ การปรับคอนทราสต์และความสว่าง การปรับความสูงของชิ้นงาน (Z) การวางแนวคริสตัล การโฟกัส และการแก้ไขสายตาเอียง ในทางกลับกัน ระบบนำทาง JEM-Navi™ ซึ่งมีขั้นตอนมาตรฐานผ่านภาพยนตร์สำหรับการทำงานของกล้องจุลทรรศน์ ช่วยให้เราได้ผลลัพธ์ที่ทำซ้ำได้ โดยไม่กระทบกับระดับทักษะของผู้ปฏิบัติงาน ด้วยระบบสุญญากาศที่ใช้ TMP เป็นมาตรฐาน เวลาในการแลกเปลี่ยนชิ้นงานจะลดลงเหลือประมาณ 30 วินาที
การวิเคราะห์ความเร็วสูงด้วยพื้นที่ขนาดใหญ่ 100 มม2 SDD (SDD คู่)
วิเคราะห์ปริมาณงานสูงได้ด้วยพื้นที่กว้างของ JEOL (100 มม2) เครื่องตรวจจับการดริฟท์ซิลิคอน (SDD)*1. ระบบตรวจจับนี้รักษามุมทึบขนาดใหญ่ โดยไม่ส่งผลกระทบต่อประสิทธิภาพพื้นฐานของกล้องจุลทรรศน์ ทำให้สามารถวิเคราะห์รังสีเอกซ์ได้รวดเร็วและมีประสิทธิภาพมากกว่ารุ่นก่อนๆ นอกจากนี้ การเลือกเส้นผ่านศูนย์กลางโพรบที่เหมาะสมที่สุดซึ่งเหมาะกับชิ้นงานทดสอบและ/หรือการวัดที่เฉพาะเจาะจง ช่วยให้วิเคราะห์ได้รวดเร็วและแม่นยำยิ่งขึ้น
*1 : ตัวเลือก
ระบบจัดการข้อมูลและเครื่องมือสนับสนุนการเขียนรายงาน
เพื่อตอบสนองคำขอจำนวนมากจากผู้ใช้ของเรา เราได้พัฒนาระบบการจัดการข้อมูลทั้งหมด ซึ่งช่วยให้สามารถจัดทำรายงานอย่างรวดเร็วสำหรับผลลัพธ์ รูปภาพและข้อมูลการวิเคราะห์ที่ได้รับจะถูกถ่ายโอนโดยอัตโนมัติไปยังซอฟต์แวร์การจัดการแบบบูรณาการ - "Image Center" *2 ผ่านระบบ LAN โดยการเข้าถึงข้อมูลจากไคลเอนต์พีซี การวัดโดยใช้ "Image Excite" *2 และการวิเคราะห์อนุภาคโดยใช้ "Region Gauge Center" *2สามารถดำเนินการได้ และจัดทำรายงานสำหรับผลลัพธ์โดยใช้โปรแกรมโครงร่างข้อมูล "Image Report"*2
*2 : ผลิตภัณฑ์ของ SYSTEM INFRONTIER INC.
ข้อบ่งชี้จำเพาะ
| ความละเอียด | |
|---|---|
| SEM (ขอบถึงขอบ) | ≦ 0.5nm (ที่ 200kV) |
| STEM | 0.16nm (ที่ 200kV) |
| TEM (ตาข่าย) | 0.1nm (ที่ 200kV) |
| [กำลังขยาย](บนจอ LCD กว้าง 24 นิ้ว) | |
| SEM | X100~X150,000,000 |
| STEM | X100~X150,000,000 |
| TEM | X500~X20,000,000 |
| [แหล่งกำเนิดอิเล็กตรอน] | |
| Emitter | ซโร/วัตต์(100) |
| แรงดันไฟเร่ง | 200kV、100kV |
| [ระบบตัวอย่าง] | |
| ขั้นตอนของชิ้นงาน (Goniometer) | ขั้นตอน Eucentric Side Entry |
| ขนาดตัวอย่าง | 3 มม.Φ |
| มุมเอียงสูงสุดพร้อมตัวยึดแบบเอียงสองครั้ง | XX : ±20° ใช่ : ±25° |
| ระยะการเดินทางด้วยกลไกการขับเคลื่อนด้วยมอเตอร์ | X,Y: ±1มม Z:±0.2มม * กลไกการขับแบบเพียโซ (X,Y) |
| [ตัวเลือก] | |
| ตัวเลือกการติดตั้งที่สำคัญン | EDS ปลาไหล กล้อง CCD ระบบเอกซ์เรย์ TEM / STEM |
การใช้งาน
แอปพลิเคชัน JEM-2800
การพัฒนากล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนปริมาณงานสูง JEM-2800
รูปภาพ
ข้อมูลเพิ่มเติม
คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?
ไม่
โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป