JEM-2100 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน
ยกเลิก

JEM-2100 เป็นกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบวิเคราะห์ขนาด 200 kV อเนกประสงค์ มีเวอร์ชันที่หลากหลายเพื่อปรับให้เข้ากับวัตถุประสงค์ของผู้ใช้ JEM-2100 ซึ่งรวมเอาระบบพีซีแบบบูรณาการสำหรับฟังก์ชันต่างๆ ที่คุ้มค่าคุ้มราคา สนับสนุนการวิจัยและพัฒนาในสาขาวิทยาศาสตร์ในวงกว้าง สำหรับชีววิทยาไปจนถึงการวิจัยวัสดุ
คุณสมบัติ
TEM อเนกประสงค์ 200 kV พร้อมความสามารถในการใช้งานที่ง่ายและสะดวกและความสามารถในการขยายที่ยอดเยี่ยม
ยอดเยี่ยม ลาบ6 ปืนอิเล็กตรอนรับประกันประสิทธิภาพที่ยอดเยี่ยมด้วยราคาที่สมเหตุสมผล
ความละเอียด TEM สูงเป็นพิเศษถึง 0.19 นาโนเมตร (ในการกำหนดค่า UHR) ช่วยให้เราสามารถสังเกตการณ์ที่ความละเอียดระดับอะตอมได้
ฟังก์ชัน STEM (Scanning Transmission Electron Microscope: option) ที่รวมอยู่ในระบบควบคุม PC ช่วยให้เราเห็นภาพการสแกนของตัวอย่างที่ความละเอียดระดับนาโนเมตร
EDS (Energy Dispersive X-ray Spectrometer) ที่มีมุมทึบ 0.28sr (ในการกำหนดค่า HR ด้วย a 50mm2 เครื่องตรวจจับ) ทำการวิเคราะห์ที่มีความไวสูงที่ความละเอียดระดับนาโนเมตร
ระยะของชิ้นงานทดสอบที่มีความเสถียรสูงช่วยให้เราสามารถสังเกตและวิเคราะห์ในระยะยาวได้
ข้อบ่งชี้จำเพาะ
องค์ประกอบ | ความละเอียดสูงพิเศษ※ 1 (ยูเอชอาร์) |
ความละเอียดสูง※ 1 (ทรัพยากรบุคคล) |
ความเอียงของชิ้นงานสูง※ 1 (ไม่รวมภาษี) |
Cryo※ 1 (ซีอาร์) |
ความคมชัดสูง※ 1 (เอชซี) |
---|---|---|---|---|---|
ความละเอียด (นาโนเมตร) | |||||
จุด | 0.194 | 0.23 | 0.25 | 0.27 | 0.31 |
ขัดแตะ | 0.14 | 0.14 | 0.14 | 0.14 | 0.14 |
บัญชี แรงดันไฟฟ้า | 80,100,120,160,200 kV | ||||
ขั้นตอนขั้นต่ำ | V 50 | ||||
Stability | |||||
บัญชี แรงดันไฟฟ้า | 2 × 10-6/นาที | ||||
OL ปัจจุบัน | 1 × 10-6/นาที | ||||
พารามิเตอร์ทางแสงสำหรับเลนส์ใกล้วัตถุ | |||||
ความยาวโฟกัส | 1.9 มม | 2.3 มม | 2.7 มม | 2.8 มม | 3.9 มม |
แอเบอร์ทรงกลม โคฟฟ์ | 0.5 มม | 1.0 มม | 1.4 มม | 2.0 มม | 3.3 มม |
สีอะเบอร์ โคฟฟ์ | 1.1 มม | 1.4 มม | 1.8 มม | 2.1 มม | 3.0 มม |
ระยะโฟกัสต่ำสุด | นาโนเมตร 1.0 | นาโนเมตร 1.5 | นาโนเมตร 1.8 | นาโนเมตร 2.0 | นาโนเมตร 5.2 |
ขนาดสปอต (เส้นผ่านศูนย์กลาง) | |||||
โหมด TEM | 20~200 นาโนเมตร | 1 ถึง 5 μm | |||
โหมด EDS | 0.5 ถึง 25 นาโนเมตร α ตัวเลือก |
1.0 ถึง 25 นาโนเมตร α ตัวเลือก |
1.5 ถึง 35 นาโนเมตร α ตัวเลือก |
2.0 ถึง 45 นาโนเมตร α ตัวเลือก |
10 ถึง 500 นาโนเมตร |
โหมด NBD | |||||
โหมด CBD | |||||
การเลี้ยวเบนของ CB | |||||
มุมบรรจบกัน (2α) |
1.5 ถึง 20 mrad หรือมากกว่า | - | - | ||
มุมรับ | ± 10 ° | - | - | ||
การอวดอ้าง | |||||
โหมด MAG | ×2,000 ถึง 1,500,000 | ×1,500 ถึง 1,200,000 | ×1,200 ถึง 1,000,000 | ×1,000 ถึง 800,000 | |
โหมด LOW MAG | ×50 ถึง 6,000 | ×50 ถึง 2,000 | |||
โหมด SA MAG | ×8,000 ถึง 800,000 | ×6,000 ถึง 600,000 | ×5,000 ถึง 600,000 | ×5,000 ถึง 400,000 | |
ความยาวกล้อง | |||||
SA ผลต่าง(มม.) | เพื่อ 80 2,000 | เพื่อ 100 2,500 | เพื่อ 150 3,000 | ||
HD diff.(ม.) | เพื่อ 4 80 | ||||
ระบบขับเคลื่อนตัวอย่าง | |||||
มุมเอียง เอ็กซ์/วาย※ 2 |
±25/±25° | ±35/±30° | ±42/±30° | ±15/±10° | ±38/±30° |
มุมเอียง X※ 3 |
± 25 ° | ± 80 ° | ± 80 ° | ± 80 ° | ± 80 ° |
กะ (มม.) | 2 (X, Y) 0.2 (Z±0.1 มม.) |
2 (X, Y) 0.4 (Z±0.2 มม.) |
|||
EDS※ 4 | |||||
มุมทึบ (30 มม2/ 50mm2) |
0.13sr/0.24sr | 0.13sr/0.28sr | 0.13sr/0.23sr | ※ 5 | 0.09sr/- |
มุมบินขึ้น (30 มม2/ 50mm2) |
25°/22.3° | 25°/24.1° | 25°/25° | ※ 5 | 20°/- |
ระบุการกำหนดค่าอย่างใดอย่างหนึ่ง (UHR, HR, HT, CR หรือ HC) เมื่อสั่งซื้อ JEM-2100
ด้วยตัวจับเอียงตัวอย่าง
ด้วยตัวจับชิ้นงานที่มีความลาดเอียงสูง
จำเป็นต้องมี EDS เสริม
ไม่สามารถติดตั้ง EDS
การใช้งาน
แอปพลิเคชัน JEM-2100
JEM-2100: การใช้งานในนาโนเทคโนโลยี
รูปภาพ

-
-
ตัวอย่าง:Nb2O5
-
ตัวอย่าง:ไต Glomerulus ของหนู
-
ตัวอย่าง: กราไฟท์คาร์บอน
สินค้าที่เกี่ยวข้อง

กล้อง SightSKY (EM-04500SKY) กล้อง CMOS คัปปลิ้งไฟเบอร์เสียงรบกวนต่ำ
เซนเซอร์ CMOS ความไวสูง สัญญาณรบกวนต่ำ 19 เมกะพิกเซล ช่วยให้ถ่ายภาพได้ชัดเจนขึ้นพร้อมรายละเอียดของชิ้นงานละเอียดที่สามารถสังเกตได้แม้ในปริมาณอิเล็กตรอนต่ำ
ชัตเตอร์ทั่วโลกและอัตราเฟรมสูง (58 fps/โหมดเต็มพิกเซล) ช่วยให้ได้รับชุดภาพที่มีสิ่งประดิษฐ์น้อยลงระหว่างการสังเกตแบบไดนามิก
ซอฟต์แวร์ควบคุมระบบกล้อง "SightX" ให้การทำงานที่เป็นมิตรต่อผู้ใช้
ข้อมูลเพิ่มเติม


คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?
ไม่
โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป