ปิด Btn

เลือกไซต์ภูมิภาคของคุณ

ปิดหน้านี้

JEM-2100 เป็นกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบวิเคราะห์ขนาด 200 kV อเนกประสงค์ มีเวอร์ชันที่หลากหลายเพื่อปรับให้เข้ากับวัตถุประสงค์ของผู้ใช้ JEM-2100 ซึ่งรวมเอาระบบพีซีแบบบูรณาการสำหรับฟังก์ชันต่างๆ ที่คุ้มค่าคุ้มราคา สนับสนุนการวิจัยและพัฒนาในสาขาวิทยาศาสตร์ในวงกว้าง สำหรับชีววิทยาไปจนถึงการวิจัยวัสดุ

คุณสมบัติ

TEM อเนกประสงค์ 200 kV พร้อมความสามารถในการใช้งานที่ง่ายและสะดวกและความสามารถในการขยายที่ยอดเยี่ยม

ยอดเยี่ยม ลาบ6 ปืนอิเล็กตรอนรับประกันประสิทธิภาพที่ยอดเยี่ยมด้วยราคาที่สมเหตุสมผล
ความละเอียด TEM สูงเป็นพิเศษถึง 0.19 นาโนเมตร (ในการกำหนดค่า UHR) ช่วยให้เราสามารถสังเกตการณ์ที่ความละเอียดระดับอะตอมได้
ฟังก์ชัน STEM (Scanning Transmission Electron Microscope: option) ที่รวมอยู่ในระบบควบคุม PC ช่วยให้เราเห็นภาพการสแกนของตัวอย่างที่ความละเอียดระดับนาโนเมตร
EDS (Energy Dispersive X-ray Spectrometer) ที่มีมุมทึบ 0.28sr (ในการกำหนดค่า HR ด้วย a 50mm2 เครื่องตรวจจับ) ทำการวิเคราะห์ที่มีความไวสูงที่ความละเอียดระดับนาโนเมตร
ระยะของชิ้นงานทดสอบที่มีความเสถียรสูงช่วยให้เราสามารถสังเกตและวิเคราะห์ในระยะยาวได้

ข้อบ่งชี้จำเพาะ

องค์ประกอบ ความละเอียดสูงพิเศษ※ 1
(ยูเอชอาร์)
ความละเอียดสูง※ 1
(ทรัพยากรบุคคล)
ความเอียงของชิ้นงานสูง※ 1
(ไม่รวมภาษี)
Cryo※ 1
(ซีอาร์)
ความคมชัดสูง※ 1
(เอชซี)
ความละเอียด (นาโนเมตร)
 จุด 0.194 0.23 0.25 0.27 0.31
 ขัดแตะ 0.14 0.14 0.14 0.14 0.14
บัญชี แรงดันไฟฟ้า 80,100,120,160,200 kV
 ขั้นตอนขั้นต่ำ V 50
Stability
 บัญชี แรงดันไฟฟ้า 2 × 10-6/นาที
 OL ปัจจุบัน 1 × 10-6/นาที
พารามิเตอร์ทางแสงสำหรับเลนส์ใกล้วัตถุ
 ความยาวโฟกัส 1.9 มม 2.3 มม 2.7 มม 2.8 มม 3.9 มม
 แอเบอร์ทรงกลม โคฟฟ์ 0.5 มม 1.0 มม 1.4 มม 2.0 มม 3.3 มม
 สีอะเบอร์ โคฟฟ์ 1.1 มม 1.4 มม 1.8 มม 2.1 มม 3.0 มม
 ระยะโฟกัสต่ำสุด นาโนเมตร 1.0 นาโนเมตร 1.5 นาโนเมตร 1.8 นาโนเมตร 2.0 นาโนเมตร 5.2
ขนาดสปอต (เส้นผ่านศูนย์กลาง)
 โหมด TEM 20~200 นาโนเมตร 1 ถึง 5 μm
 โหมด EDS 0.5 ถึง 25 นาโนเมตร
α ตัวเลือก
1.0 ถึง 25 นาโนเมตร
α ตัวเลือก
1.5 ถึง 35 นาโนเมตร
α ตัวเลือก
2.0 ถึง 45 นาโนเมตร
α ตัวเลือก
10 ถึง 500 นาโนเมตร
 โหมด NBD
 โหมด CBD
การเลี้ยวเบนของ CB
 มุมบรรจบกัน
(2α)
1.5 ถึง 20 mrad หรือมากกว่า - -
 มุมรับ ± 10 ° - -
การอวดอ้าง
 โหมด MAG ×2,000 ถึง 1,500,000 ×1,500 ถึง 1,200,000 ×1,200 ถึง 1,000,000 ×1,000 ถึง 800,000
 โหมด LOW MAG ×50 ถึง 6,000 ×50 ถึง 2,000
 โหมด SA MAG ×8,000 ถึง 800,000 ×6,000 ถึง 600,000 ×5,000 ถึง 600,000 ×5,000 ถึง 400,000
ความยาวกล้อง
 SA ผลต่าง(มม.) เพื่อ 80 2,000 เพื่อ 100 2,500 เพื่อ 150 3,000
 HD diff.(ม.) เพื่อ 4 80
ระบบขับเคลื่อนตัวอย่าง
 มุมเอียง
 เอ็กซ์/วาย※ 2
±25/±25° ±35/±30° ±42/±30° ±15/±10° ±38/±30°
 มุมเอียง
 X※ 3
± 25 ° ± 80 ° ± 80 ° ± 80 ° ± 80 °
 กะ (มม.) 2 (X, Y)
0.2 (Z±0.1 มม.)
2 (X, Y)
0.4 (Z±0.2 มม.)
EDS※ 4
 มุมทึบ
 (30 มม2/ 50mm2)
0.13sr/0.24sr 0.13sr/0.28sr 0.13sr/0.23sr ※ 5 0.09sr/-
 มุมบินขึ้น
 (30 มม2/ 50mm2)
25°/22.3° 25°/24.1° 25°/25° ※ 5 20°/-
  • ระบุการกำหนดค่าอย่างใดอย่างหนึ่ง (UHR, HR, HT, CR หรือ HC) เมื่อสั่งซื้อ JEM-2100

  • ด้วยตัวจับเอียงตัวอย่าง

  • ด้วยตัวจับชิ้นงานที่มีความลาดเอียงสูง

  • จำเป็นต้องมี EDS เสริม

  • ไม่สามารถติดตั้ง EDS

การใช้งาน

แอปพลิเคชัน JEM-2100

รูปภาพ

สินค้าที่เกี่ยวข้อง

ข้อมูลเพิ่มเติม

พื้นฐานวิทยาศาสตร์

คำอธิบายง่ายๆ เกี่ยวกับกลไกและ
การใช้งานผลิตภัณฑ์ JEOL

ปิดหน้านี้
แจ้งให้ทราบ

คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?

ไม่

โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป

ติดต่อ

เจอีโอแอล ให้บริการสนับสนุนที่หลากหลายเพื่อให้แน่ใจว่าลูกค้าของเราสามารถใช้ผลิตภัณฑ์ของเราได้อย่างสบายใจ
โปรดติดต่อเรา