JEM-1400Plus กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน
ยกเลิก
JEM-1400Plus เป็นกล้องจุลทรรศน์อิเลคตรอนแบบส่องผ่าน (TEM) ที่พัฒนาขึ้นสำหรับการใช้งานในหลากหลายสาขาวิชา ตั้งแต่ชีววิทยาไปจนถึงการวิจัยวัสดุ เช่น ส่วนทางชีววิทยา พอลิเมอร์ วัสดุนาโน และ .... สภาพแวดล้อมใหม่ได้รับการปรับให้เหมาะสมสำหรับการดำเนินการ TEM ที่ใช้งานง่ายด้วยสิ่งต่อไปนี้
คุณสมบัติ
- แผงควบคุมการทำงานแบบใหม่และหน้าจอ LCD พร้อมแผงสัมผัสที่มอบการใช้งานที่ง่ายและสะดวก
- กล้องความแม่นยำสูง (8 M พิกเซล) ผสานรวมกับระบบปฏิบัติการ TEM ที่ควบคุมโดย PC
- ซอฟต์แวร์ดูภาพแบบออฟไลน์ [SightX] ช่วยให้สามารถตรวจสอบและแก้ไขภาพที่ได้รับบนพีซีของผู้ใช้ในสำนักงาน
- ฟังก์ชันอัตโนมัติมากมาย รวมถึงโฟกัสอัตโนมัติ เปิดรับแสงอัตโนมัติ และตัดต่ออัตโนมัติ
- ระบบเลนส์สร้างภาพใหม่ ให้กำลังขยาย x10 และทำให้ได้ภาพตาข่ายทั้งหมด
กล้องตัวเดียวครอบคลุมการขยายทั้งหมด ตั้งแต่การค้นหาเป้าหมายไปจนถึงการบันทึกภาพสุดท้าย
ด้วย JEM-1400Plus ภาพจากโหมด ultra LOWMAG (แม็กขั้นต่ำ ×10) ถึงโหมด MAG (แม็กสูงสุด ×1.2 M) สามารถรับได้ด้วยกล้องเพียงตัวเดียว ส่งผลให้การสังเกตราบรื่นโดยไม่ต้องสลับกล้องหรือ เปลี่ยนสายตาไปยังหน้าจอเรืองแสง การใช้ฟังก์ชันตัดต่อภาพอัตโนมัติ (มีให้เป็นมาตรฐาน) ช่วยให้ได้ภาพที่มีความแม่นยำสูงในขอบเขตการมองเห็นที่กว้างได้ง่าย กล้อง 8 ล้านพิกเซล (กล้องความละเอียดสูง) และกล้อง 1 ล้านพิกเซลสามารถเลือกได้ขึ้นอยู่กับวัตถุประสงค์ของผู้ใช้
ภาพจากกล้อง CCD (8 M พิกเซล)
ภาพจากกล้อง CCD 10×
ตัวอย่าง: เซลล์ตับของหนู
ได้รับความอนุเคราะห์จาก Dr. Shogo Muranaka, Hamamatsu University School of Medicine
ฟังก์ชั่น Point＆Shoot
ด้วยฟังก์ชันนี้ ผู้ใช้จะอนุญาตให้ย้ายมุมมองไปยังตำแหน่งเป้าหมายที่ชี้โดยคลิกที่ภาพที่ได้มาก่อนหน้านี้ ฟังก์ชั่น Point＆Shoot ช่วยให้ผู้ใช้สามารถดูภาพเป้าหมายโดยไม่ต้องเปลี่ยนสภาพแสง เช่น โฟกัสหรือกำลังขยาย
แผงอัจฉริยะ
แผงควบคุมการทำงานขั้นสูงที่ออกแบบมาอย่างเรียบง่ายได้รับการพัฒนาขึ้น รูปแบบที่หลากหลายและหลากหลายบนจอสีของ EL แบบออร์แกนิกช่วยให้สามารถแสดงฟังก์ชันของปุ่มต่างๆ ที่เข้าถึงได้ง่ายและใช้งานง่าย มีรูปแบบปุ่มประมาณ 50 ชนิดและฟังก์ชันของปุ่มสามารถปรับแต่งได้ตามการเลือกของผู้ใช้
ฟังก์ชั่นอื่น ๆ
ฟังก์ชันซอฟต์แวร์ต่อไปนี้จัดทำขึ้นเพื่อวัตถุประสงค์พิเศษของผู้ใช้
- เครื่องมือวัดความยาว
- การแสดงภาพขนาดย่อของไฟล์ภาพ
- การบูรณาการกับการแก้ไขดริฟท์
ข้อบ่งชี้จำเพาะ
| องค์ประกอบ*1 | ความคมชัดสูง (HC) | ต้นกำเนิด (ST) | |
|---|---|---|---|
| ความละเอียด (นาโนเมตร) | TEM | TEM | STEM*2 |
| ภาพอนุภาค | 0.38 | 0.38 | - |
| ภาพขัดแตะ | 0.2 | 0.2 | - |
| ภาพทุ่งสว่าง STEM (ขอบถึงขอบ) |
- | - | 2.0 |
| แรงดันไฟฟ้าเร่ง ตัวแปรขั้นต่ำ |
40、60、80、100、120kV 33V (U* พร้อมการแก้ไข) |
40、60、80、100、120kV 33V (U* พร้อมการแก้ไข) |
|
| การอวดอ้าง | โหมด TEM | โหมด TEM | โหมด STEM |
| โหมด MAG | ×200~1,200,000 | ×200~1,200,000 | ×5,000~2,000,000 |
| โหมด LOW MAG | ×10~1,000 | ×10~1,000 | ×120~4,000 |
| โหมด SA MAG | ×2,000~300,000 | ×2,000~300,000 | - |
| มุมเอียงของชิ้นงาน | |||
| เอียง-X | ±70° (ตัวยึดชิ้นงานแบบเอียงสูง) / ±25° (ตัวยึดมาตรฐาน) | ||
| เอียง-Y | ±9° (ใช้ตัวยึด STH) | ||
| ช่วงการเดินทาง | 2 มม | ||
*1 เลือกการกำหนดค่าอย่างใดอย่างหนึ่งเมื่อสั่งซื้อระบบ
*2 ต้องใช้อุปกรณ์สังเกตการณ์ภาพสแกนที่เป็นอุปกรณ์เสริม
การใช้งาน
แอปพลิเคชัน JEM-1400Plus
ภาพกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่านอัลตร้าไวด์ของไตของหนูเมาส์
การเปรียบเทียบวิธีการสร้างภาพ 3 มิติในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสำหรับวัสดุชีวภาพ
โซลิดสเตต NMR พบกับการเลี้ยวเบนของอิเล็กตรอน
สินค้าที่เกี่ยวข้อง
ชิปหน้าต่าง SiN
ฟิล์ม SiN ที่มีความแข็งแรงสูงช่วยให้เราสามารถสังเกตพื้นที่ขนาดใหญ่เป็นมิลลิเมตรได้ นอกจากนี้ยังเหมาะอย่างยิ่งสำหรับการสังเกตส่วนที่หั่นเป็นชุดต่อเนื่องกัน เนื่องจากไม่มีพื้นที่ที่มองไม่เห็นซึ่งเกิดจากกริด TEM ทั่วไป ตัวยึดเฉพาะทำให้ง่ายต่อการทำ Correlative Light และ Electron Microscopy (CLEM)
ข้อมูลเพิ่มเติม
คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?
ไม่
โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป