Scanning Probe Microscope (SPM) เป็นกล้องจุลทรรศน์อเนกประสงค์ที่สแกนพื้นผิวตัวอย่างด้วยโพรบที่ละเอียดมาก และแสดงภาพรูปร่างภูมิประเทศและคุณสมบัติทางกายภาพของพื้นผิว
ด้วยการพัฒนานาโนเทคโนโลยีล่าสุด SPM จึงถูกนำมาใช้อย่างแพร่หลายในด้านต่างๆ
คุณสมบัติ
ความละเอียดสูงช่วยให้สังเกตภาพอะตอมและโมเลกุลได้
ความละเอียดของ SPM นั้นสูงเมื่อเทียบกับกล้องจุลทรรศน์ประเภทต่างๆ SPM มีความละเอียดในแนวนอนเทียบได้กับ TEM ความละเอียดสูง และยังมีความละเอียดในแนวตั้งที่เหนือกว่ากล้องจุลทรรศน์อื่นๆ
SPM ช่วยให้คุณสามารถสังเกตโครงสร้างที่ละเอียดมากได้อย่างง่ายดาย ซึ่งไม่ได้รับการสังเกตโดยใช้ SEM โดยไม่ต้องมีการจัดการตัวอย่าง
การแยกการสั่นสะเทือนสองครั้งโดยใช้โต๊ะกันสะเทือนแบบถุงลมและแดมเปอร์แบบเจล
JSPM-5200 นำเสนอภาพที่มีความละเอียดระดับอะตอม/โมเลกุลด้วยความช่วยเหลือของกลไกการแยกนี้
เลือกโหมด AFM ได้สามโหมด
JSPM-5200 มาพร้อมกับโหมด AFM สามโหมด: โหมดสัมผัส โหมด AC และโหมดไม่สัมผัส ซึ่งช่วยให้คุณเลือกโหมดที่เหมาะสมโดยขึ้นอยู่กับตัวอย่างหรือวัตถุประสงค์ของการวัด
โหมดไม่ติดต่อรวมอยู่ในการกำหนดค่ามาตรฐาน
JSPM-5200 สามารถถ่ายภาพความละเอียดสูงได้โดยที่ปลายของโพรบไม่สัมผัสกับพื้นผิวตัวอย่าง
การถ่ายภาพและการวัดปริมาณทางกายภาพของพื้นผิวตัวอย่าง
SPM ไม่เพียงใช้สำหรับการถ่ายภาพรูปร่างภูมิประเทศของตัวอย่างเท่านั้น แต่ยังรวมถึงการสังเกตและการวัดปริมาณทางกายภาพต่างๆ
โหมดการวัดต่างๆ
นอกเหนือจากโหมดการวัดมาตรฐานรวมถึงโหมด FFM และโหมดเฟสแล้ว JSPM-5200 ยังมีโหมดเสริมซึ่งครอบคลุมการวัดต่างๆ มากมาย เช่น ภาพศักยภาพพื้นผิว ภาพแรงแม่เหล็ก และภาพความหนืด
ความยืดหยุ่นในสภาพแวดล้อมตัวอย่าง
SPM สามารถควบคุมสภาพแวดล้อมตัวอย่างได้ คุณสามารถใช้ JSPM-5200 ในสภาพแวดล้อมต่างๆ เช่น อากาศ สุญญากาศ บรรยากาศควบคุม และของเหลว
สพม.สิ่งแวดล้อม
JEOL ได้ขยาย SPM ความดันบรรยากาศไปยัง SPM สิ่งแวดล้อม JSPM-5200 SPM นี้ควบคุมสภาพแวดล้อมตัวอย่างได้อย่างยืดหยุ่น ทำให้คุณสามารถสังเกตตัวอย่างได้ไม่เฉพาะในสุญญากาศ บรรยากาศควบคุม และของเหลว แต่ยังรวมถึงในขณะที่ให้ความร้อนหรือทำให้เย็นลงด้วย
การทำงานที่เรียบง่ายและสม่ำเสมอ
การใช้งานที่เรียบง่ายด้วย JSPM-5200 จะไม่เปลี่ยนแปลง แม้ว่าคุณจะติดตั้งอุปกรณ์เสริมสำหรับทำความร้อนหรือทำความเย็นตัวอย่างที่เป็นอุปกรณ์เสริมในสุญญากาศหรือในอากาศก็ตาม JSPM-5200 ใช้งานง่ายในทุกสภาพแวดล้อมตัวอย่าง
การวัดอย่างง่าย
คุณสามารถสังเกตภาพตัวอย่างได้ทันทีหลังจากใส่ตัวอย่างใน JSPM-5200
ใช้งานง่ายเพียงคลิกปุ่มไอคอน
เมื่อคุณใส่ตัวอย่างใน JSPM-5200 คุณสามารถสังเกตภาพตัวอย่างได้ง่ายๆ เพียงคลิกปุ่มไอคอนที่มีป้ายกำกับชัดเจนในซอฟต์แวร์การวัด ซอฟต์แวร์การวัดนี้จะทำการปรับส่วนประกอบที่จำเป็นทั้งหมดโดยอัตโนมัติ (คานยื่น ฯลฯ) สำหรับการวัด
การประมวลผลภาพ → การวิเคราะห์ → การสร้างรายงาน – รวมไว้ในฟังก์ชันเดียว
ขั้นตอนที่จำเป็นสำหรับการวัดค่า SPM ตั้งแต่การประมวลผลภาพและการวิเคราะห์ไปจนถึงการสร้างรายงาน ได้รวมอยู่ในฟังก์ชันเดียวในซอฟต์แวร์การวัด คุณจึงสามารถทำงานเหล่านี้ได้อย่างรวดเร็ว
ข้อบ่งชี้จำเพาะ
| ความละเอียด | AFM: ความละเอียดระดับอะตอม (ไมกาพร้อมโหมดสัมผัส)
STM: ความละเอียดระดับอะตอม (ภาพอะตอม HOPG) |
|---|---|
| ระบบดริฟท์ | 0.05 นาโนเมตร/วินาที หรือน้อยกว่า มีสเตจแบบไม่มีดริฟท์ |
| โหมดการวัด (AFM) | โหมดการติดต่อ AFM
ภาพภูมิประเทศ ภาพกองทัพ เส้นโค้งโฟกัส, เส้นโค้งแรงเสียดทาน, IV, CITS, ติดต่อภาพปัจจุบัน สพม.แมป โหมด AC ภาพภูมิประเทศ ภาพเฟส ภาพแอมพลิจูด ทีละจุด MFM โหมดไม่สัมผัส (โหมด FM) ภาพภูมิประเทศ ภาพความถี่ |
| โหมดการวัด (STM) | โหมด STM
ภาพภูมิประเทศ ภาพปัจจุบัน CITS IV, SV, IS |
| ช่วงสแกน | XY : 0 ถึง 20 μm (สแกนเนอร์มาตรฐาน)
ความละเอียด: 25 บิต (รวมออฟเซ็ต) Z : 0 ถึง 3 μm (สแกนเนอร์มาตรฐาน) ความละเอียด: 21 บิต (เพิ่มขึ้น x32) |
| ขนาดตัวอย่าง | สูงสุด 50 มม. × 50 มม. × 5 มม. (T)
มาตรฐาน: 10 มม. × 10 มม. × 3 มม. (T) |
หมายเหตุ) เนื่องจากไม่รวมคานยื่น โปรดติดต่อเราเมื่อสั่งซื้อ JSPM-5200
ข้อมูลเพิ่มเติม
คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?
ไม่
โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป