JSM-IT300HR InTouchScope™ กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด

JSM-IT300HR เป็นรุ่นใหม่ของ JEOL InTouchScope Series
JSM-IT300HR ติดตั้งปืนอิเล็กตรอนความสว่างสูงและระบบออปติคอลใหม่ ทำให้ได้ภาพและการวิเคราะห์คุณภาพสูงที่ยอดเยี่ยมด้วยความไวสูงและความละเอียดเชิงพื้นที่สูง
SEM ที่ล้ำสมัยใหม่นี้ให้ประสิทธิภาพที่ยอดเยี่ยมในขณะที่ยังคงความสามารถในการใช้งานสูงบน InTouchScope Series ที่ได้รับรางวัล

คุณสมบัติ

ประสิทธิภาพที่ยอดเยี่ยม

ความสามารถในการทำงานสูง: ปืนอิเลคตรอนความสว่างสูงเพื่อลดขั้นตอนการปรับการสังเกตจนถึงการวิเคราะห์ลงอย่างมาก

แม้ภายใต้เงื่อนไขการวิเคราะห์ (ระยะการทำงาน 10 มม., กระแสโพรบ 1 nA) JSM-IT300HR ให้ภาพที่คมชัดด้วยกำลังขยายสูง x100,000

W-SEM แบบเดิม

สามารถรับภาพที่คมชัดที่ x100,000 ภายใต้เงื่อนไขการสังเกต (ซ้าย) แต่ภาพจะเบลอภายใต้เงื่อนไขการวิเคราะห์ (ขวา)  

x100,000 เงื่อนไขการสังเกต (1 pA)
ตัวอย่าง: อนุภาค Au

x100,000 เงื่อนไขการวิเคราะห์ (1 nA)
ตัวอย่าง: อนุภาค Au

JSM-IT300HR

JSM-IT300HR ให้ภาพที่คมชัดแม้ในสภาวะการวิเคราะห์

การสังเกต: สังเกตได้ง่ายแม้ในแรงดันไฟเร่งต่ำและในโหมดสุญญากาศต่ำ

• เนื่องจาก JSM-IT300HR ให้ภาพคุณภาพสูงแม้กำลังขยายสูงที่ x50,000 ถึง x100,000 จึงสังเกตเห็นโครงสร้างที่ละเอียดได้อย่างง่ายดาย
• การถ่ายภาพด้วยแรงดันต่ำและการถ่ายภาพในโหมดสุญญากาศต่ำยังช่วยให้การสังเกตภาพมีคุณภาพสูง ดังนั้น ชิ้นงานที่ไวต่อลำแสงจะถูกสังเกตโดยความเสียหายจากความร้อนที่ลดลง และโครงสร้างที่ดีของวัสดุฉนวนจะถูกสังเกตได้อย่างง่ายดาย

แรงดันไฟเร่งต่ำ

• การชาร์จที่ลดลง
• ลดความเสียหายจากความร้อนเนื่องจากการฉายรังสีของลำแสง

ตัวอย่าง: เส้นใยนาโนเซลลูโลสที่ไม่เคลือบผิว (CNF)
โครงสร้างที่ละเอียดของเส้นใยแต่ละเส้นสามารถสังเกตได้อย่างง่ายดายด้วยกำลังขยายสูงแม้ที่ 1 kV
แรงดันเร่ง: 1kV, กำลังขยาย: x30,000
โหมดสุญญากาศสูง ภาพอิเล็กตรอนทุติยภูมิ

เอื้อเฟื้อตัวอย่าง: Prof. H. Yano และ Associate Prof. K. Abe
ห้องปฏิบัติการ ของสถาบันวิจัยวัสดุเชิงรุกชีวภาพเพื่อมนุษยโลกที่ยั่งยืน
มหาวิทยาลัยเกียวโต

โหมดสูญญากาศต่ำและแรงดันเร่งต่ำ

• การชาร์จที่ลดลง
• ลดความเสียหายจากความร้อนเนื่องจากการฉายรังสีของลำแสง
• ความละเอียดเชิงพื้นที่สูง

ชิ้นงาน: ภาพตัดขวางที่ไม่เคลือบผิวของฟิล์มบางของกระจกตัดแสงสีน้ำเงินที่บดโดยระบบลำแสงไอออนโฟกัส JIB-4000
ในโหมดสุญญากาศต่ำ จะสังเกตเห็นฟิล์มบางที่เป็นฉนวนแบบออปติกได้โดยไม่ต้องเคลือบด้วยสื่อนำไฟฟ้า
แรงดันเร่ง: 3kV, กำลังขยาย: x50,000
โหมดสุญญากาศต่ำ ภาพองค์ประกอบอิเล็กตรอนแบบกระจายกลับ

การวิเคราะห์องค์ประกอบ: ACL (เลนส์ควบคุมมุมรับแสง) เพื่อการวิเคราะห์องค์ประกอบที่ราบรื่นในพื้นที่ขนาดไมโครเมตร

การรับข้อมูลที่ง่ายและรวดเร็วขึ้น

• รวมฟังก์ชันแผงสัมผัส ”Smart” สำหรับการใช้งานง่ายซึ่งเป็นคุณลักษณะของ InTouchScope Series
• สูตรอาหารถูกสร้างขึ้นตามประเภทตัวอย่างและการใช้งาน สูตรอาหารเหล่านี้ตั้งค่าเงื่อนไข SEM โดยอัตโนมัติซึ่งปรับให้เหมาะสมสำหรับการสังเกตและวิเคราะห์ชิ้นงานทดสอบทุกประเภท
• ระบบนำทางสเตจเสริมช่วยอำนวยความสะดวกอย่างมากในการค้นหาช่องสังเกตการณ์ กล้อง CCD ที่ฝังไว้อย่างสมบูรณ์จะนำทางภาพสี เมื่อคลิกสองครั้งที่ภาพสี เวทีจะเลื่อนไปยังช่องสังเกตการณ์อย่างรวดเร็ว

ข้อบ่งชี้จำเพาะ

ข้อมูลเบื้องต้นเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์ JEOL

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM)

ข้อมูลเพิ่มเติม