ปิด Btn

เลือกไซต์ภูมิภาคของคุณ

ปิดหน้านี้

ตัวจับยึดชิ้นงานทดสอบเดียวกันนี้ใช้ได้กับทั้งกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัลและกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ด้วยเหตุนี้ ด้วยการจัดการข้อมูลบนเวทีด้วยซอฟต์แวร์เฉพาะ จึงเป็นไปได้ที่ระบบจะบันทึกตำแหน่งที่สังเกตได้ด้วยกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัล แล้วขยายพื้นที่เดียวกันเพิ่มเติมด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดเพื่อสังเกตโครงสร้างที่ละเอียดด้วยกำลังขยายที่สูงขึ้น & ความละเอียดสูงขึ้น เป้าหมายการสังเกตที่พบด้วยกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัลสามารถสังเกตได้อย่างลงตัวด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดโดยไม่ต้องค้นหาเป้าหมายอีกครั้ง ขณะนี้คุณสามารถเปรียบเทียบและตรวจสอบภาพกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัลและภาพกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดได้อย่างราบรื่นและง่ายดาย

คุณสมบัติ

โครงร่างระบบ

รุ่นที่ใช้งานได้:JSM-7800F(LV)、JSM-7610F, JSM-7100F(LV/TTL)

การเก็บข้อมูลและการสังเกตโดยสัญชาตญาณด้วยการใช้สี

โดยการเพิ่มข้อมูลสีของแสงที่มองเห็นได้จากภาพกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัล (ซึ่งไม่สามารถรับได้ด้วยภาพ SEM) จะทำให้ภาพ SEM มีเอฟเฟ็กต์ภาพที่เป็นธรรมชาติมากขึ้น

การค้นหาเป้าหมายที่ราบรื่นใช้ประโยชน์จากคุณสมบัติของกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัล

การสังเกตด้วยกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัลทำให้สามารถค้นหาโครงสร้างเป้าหมายได้ง่าย ซึ่งยากต่อการแยกแยะโดยใช้ภาพ SEM

ป้องกันความเสียหายต่อชิ้นงานทดสอบจากลำแสงอิเล็กตรอน

เพื่อป้องกันความเสียหายหรือการปนเปื้อนจากลำอิเล็กตรอน การค้นหาพื้นที่ที่น่าสนใจจะดำเนินการในขั้นแรกโดยใช้กล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัล ทำให้สามารถสังเกต SEM ได้โดยมีปริมาณรังสีน้อยที่สุดไปยังจุดสังเกต

การใช้งาน

แอปพลิเคชั่น miXcroscopy

สินค้าที่เกี่ยวข้อง

ข้อมูลเพิ่มเติม

พื้นฐานวิทยาศาสตร์

คำอธิบายง่ายๆ เกี่ยวกับกลไกและ
การใช้งานผลิตภัณฑ์ JEOL

ปิดหน้านี้
แจ้งให้ทราบ

คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?

ไม่

โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป

ติดต่อ

เจอีโอแอล ให้บริการสนับสนุนที่หลากหลายเพื่อให้แน่ใจว่าลูกค้าของเราสามารถใช้ผลิตภัณฑ์ของเราได้อย่างสบายใจ
โปรดติดต่อเรา