miXcroscopy™ Linked Optical & Scanning Electron Microscopy System | สินค้า

ตัวจับยึดชิ้นงานทดสอบเดียวกันนี้ใช้ได้กับทั้งกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัลและกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ด้วยเหตุนี้ ด้วยการจัดการข้อมูลบนเวทีด้วยซอฟต์แวร์เฉพาะ จึงเป็นไปได้ที่ระบบจะบันทึกตำแหน่งที่สังเกตได้ด้วยกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัล แล้วขยายพื้นที่เดียวกันเพิ่มเติมด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดเพื่อสังเกตโครงสร้างที่ละเอียดด้วยกำลังขยายที่สูงขึ้น & ความละเอียดสูงขึ้น เป้าหมายการสังเกตที่พบด้วยกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัลสามารถสังเกตได้อย่างลงตัวด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดโดยไม่ต้องค้นหาเป้าหมายอีกครั้ง ขณะนี้คุณสามารถเปรียบเทียบและตรวจสอบภาพกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัลและภาพกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดได้อย่างราบรื่นและง่ายดาย

คุณสมบัติ

โครงร่างระบบ

รุ่นที่ใช้งานได้:
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกนการปล่อยภาคสนาม
อิเล็กตรอนโพรบไมโครอนาไลเซอร์ (EPMA)

การเก็บข้อมูลและการสังเกตโดยสัญชาตญาณด้วยการใช้สี

โดยการเพิ่มข้อมูลสีของแสงที่มองเห็นได้จากภาพกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัล (ซึ่งไม่สามารถรับได้ด้วยภาพ SEM) จะทำให้ภาพ SEM มีเอฟเฟ็กต์ภาพที่เป็นธรรมชาติมากขึ้น

การค้นหาเป้าหมายที่ราบรื่นใช้ประโยชน์จากคุณสมบัติของกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัล

การสังเกตด้วยกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัลทำให้สามารถค้นหาโครงสร้างเป้าหมายได้ง่าย ซึ่งยากต่อการแยกแยะโดยใช้ภาพ SEM

ป้องกันความเสียหายต่อชิ้นงานทดสอบจากลำแสงอิเล็กตรอน

เพื่อป้องกันความเสียหายหรือการปนเปื้อนจากลำอิเล็กตรอน การค้นหาพื้นที่ที่น่าสนใจจะดำเนินการในขั้นแรกโดยใช้กล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัล ทำให้สามารถสังเกต SEM ได้โดยมีปริมาณรังสีน้อยที่สุดไปยังจุดสังเกต