ลาซเอดจ์
ระบบเลเซอร์ SEM
การผสานรวมเทคโนโลยีเลเซอร์และ SEM ช่วยให้สามารถตัดและวัดชิ้นงานในพื้นที่ขนาดใหญ่ได้อย่างมีคุณภาพสูง
“LazEdge” คืออุปกรณ์ที่ผสานรวมกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกน (SEM) ของ JEOL เข้ากับเทคโนโลยีเลเซอร์ที่เป็นกรรมสิทธิ์ของ Hamamatsu Photonics KK ซึ่งช่วยให้สามารถประมวลผลด้วยเลเซอร์ภายในห้องตัวอย่างของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนได้
ระบบนี้ช่วยให้สามารถส่งตัวอย่างตัดขวางคุณภาพสูงที่ผลิตขึ้นด้วยกระบวนการความเร็วสูงและพื้นที่ขนาดใหญ่ไปยังการวิเคราะห์ขั้นต่อไปได้อย่างราบรื่น เช่น การสังเกตด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกน (SEM) การวิเคราะห์ธาตุ และการวิเคราะห์ทิศทางของผลึก โดยไม่ต้องสัมผัสกับสภาพแวดล้อมภายนอก ด้วยเหตุนี้ จึงตอบสนองความต้องการด้านการวิเคราะห์ที่หลากหลาย รวมถึงการวิเคราะห์ตัวอย่างโลหะ การวิเคราะห์แบตเตอรี่ที่ต้องการการแยกอากาศ และการวิเคราะห์ความล้มเหลวของเซมิคอนดักเตอร์ที่ต้องการการตัดขวางความเร็วสูง
คุณสมบัติ
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกน (SEM) ที่ใช้เลเซอร์เฟมโตวินาที สามารถสร้างภาพตัดขวางคุณภาพสูงได้ถือกำเนิดขึ้นแล้ว
จุด. 1
การตัดขวางคุณภาพสูงในห้องตัวอย่าง
ด้วยการผสานระบบประมวลผลด้วยเลเซอร์เข้ากับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกน (SEM) LazEdge จึงสามารถตัดชิ้นงานเป็นหน้าตัดขนาดใหญ่ด้วยความเร็วสูงภายในห้องตัวอย่างได้
ด้วยการใช้ระบบออปติคอลที่เป็นกรรมสิทธิ์เฉพาะ ซึ่งช่วยให้สามารถปรับเฟสของลำแสงเลเซอร์ในเชิงพื้นที่ได้ ทำให้สามารถสร้างภาพตัดขวางคุณภาพสูงพร้อมโครงสร้าง LIPSS ที่ลดลงได้
จุด. 2
การป้องกันการปนเปื้อนในห้องเก็บตัวอย่าง
เทคโนโลยีการป้องกันที่เป็นกรรมสิทธิ์เฉพาะอย่าง LazEdge Shield ช่วยป้องกันเศษวัสดุที่เกิดขึ้นระหว่างกระบวนการผลิตไม่ให้กระจายออกไป
สามารถรักษาความสะอาดของตัวตรวจจับ คอลัมน์ และผนังห้องตัวอย่างได้โดยปราศจากการปนเปื้อน
จุด. 3
การทำงานที่ราบรื่นระหว่างการตัดขวางด้วยเลเซอร์และการสังเกตด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกน
สามารถสลับระหว่างการประมวลผลและการสังเกตได้อย่างรวดเร็วภายในห้องตัวอย่างของ SEM การประมวลผลด้วยเลเซอร์เพียงอย่างเดียวสามารถให้ภาพตัดขวางที่มีคุณภาพระดับ EBSD และสามารถสร้าง EBSD แบบ 3 มิติได้โดยการทำซ้ำขั้นตอนการประมวลผลและการวัดโดยอัตโนมัติ
การประมวลผลและการวัดพื้นที่ขนาดใหญ่ทำได้อย่างรวดเร็วด้วยระบบเลเซอร์และกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกน (SEM) ที่ผสานรวมเข้าด้วยกัน
ตัวอย่างการวัดชิ้นงานโลหะโดยใช้การประมวลผลแบบพื้นที่กว้างและความเร็วสูง
เครื่องนี้ครอบคลุมพื้นที่กว้างขวางในเวลาประมวลผลที่สั้น ตั้งแต่การประมวลผลพื้นที่ขนาดใหญ่ไปจนถึงการสร้างแผนที่ EBSD กระบวนการทั้งหมดเสร็จสมบูรณ์ภายในเวลาประมาณหนึ่งชั่วโมง สามารถจัดการการทำงานตั้งแต่การประมวลผลไปจนถึงการวิเคราะห์ได้อย่างราบรื่นด้วยความเร็วที่น่าทึ่ง
ตัวอย่าง: แผ่นโมลิบเดนัม
ระยะเวลาดำเนินการ: ประมาณ 30 นาที
ดาวน์โหลดแคตตาล็อก
สินค้าที่เกี่ยวข้อง
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM)
ข้อมูลเพิ่มเติม
คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?
โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป