เจซีเอ็ม-7000พลัส
SEM แบบตั้งโต๊ะ NeoScope™
สังเกต "ตอนนี้" ลงมือทำ "ต่อไป"
การสังเกตการณ์แบบเรียลไทม์ที่พัฒนาไปอีกขั้น กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบตั้งโต๊ะ (Benchtop SEM)
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบตั้งโต๊ะ JCM-7000Plus เปลี่ยนการสังเกตการณ์แบบเดิมๆ ให้เป็นการวิเคราะห์เชิงลึกได้ทันที ด้วยการผสานรวมการถ่ายภาพ SEM คุณภาพสูง การวิเคราะห์ธาตุแบบเรียลไทม์ และเวิร์กโฟลว์อัตโนมัติ กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบตั้งโต๊ะนี้ช่วยให้ผู้ใช้เข้าใจตัวอย่างได้อย่างรวดเร็วและก้าวไปสู่ขั้นตอนต่อไปได้อย่างมั่นใจ
ไม่ว่าจะเป็นการคัดกรองวัสดุ การตรวจสอบข้อบกพร่อง หรือการควบคุมคุณภาพ เครื่อง JCM-7000Plus จะให้ข้อมูลที่คุณต้องการได้ในเวลาที่คุณต้องการ
คุณสมบัติ
สังเกต "ตอนนี้"
จากการสังเกตด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกน (SEM) อย่างง่าย สู่การวิเคราะห์แบบเรียลไทม์
แอคชั่น "ถัดไป"
ข้อมูลคุณภาพสูงเพื่อสนับสนุนการตัดสินใจของคุณ
ซีโร่แม็ก
การทำงานที่ราบรื่นตั้งแต่การถ่ายภาพด้วยแสงไปจนถึงการถ่ายภาพด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกน (SEM)
เมื่อซูมภาพจากกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคอล ระบบจะเปลี่ยนเป็นภาพจากกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกน (SEM) โดยอัตโนมัติ
• การรับชมทำได้ง่ายโดยไม่ต้องมีการเตรียมการล่วงหน้าในโหมดสุญญากาศต่ำมาตรฐาน
• นอกจากนี้ JCM-7000Plus ยังปรับความคมชัดและความสว่าง โฟกัส และภาวะสายตาเอียงโดยอัตโนมัติ เพื่อสร้างภาพ SEM คุณภาพสูงได้อย่างรวดเร็ว
ตัวอย่าง: เกลือ
ตัวอย่าง: แท็บเล็ตและฟันฉลาม
ฟังก์ชั่น Live ขั้นสูงสี่ฟังก์ชั่น
ทำความเข้าใจตัวอย่างของคุณได้ทันทีในขณะที่คุณสังเกต
01. การวิเคราะห์สด
การวิเคราะห์ธาตุระหว่างการสังเกตการณ์
JEOL เป็นหนึ่งในผู้ผลิตไม่กี่รายที่พัฒนาทั้งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนและระบบ EDS ด้วยตนเอง สเปกตรัมรังสีเอกซ์ของบริเวณที่กำลังสังเกต และองค์ประกอบหลักที่ระบุได้หลังจากการตรวจสอบอัตโนมัติ สามารถแสดงบนหน้าจอการสังเกตได้แบบเรียลไทม์ การสังเกตและการวิเคราะห์ธาตุสามารถทำได้บนหน้าจอเดียวกัน ทำให้การวิเคราะห์ราบรื่นโดยไม่ขัดจังหวะขั้นตอนการทำงานของคุณ นอกจากนี้ เนื่องจากกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนและ EDS ถูกรวมเข้าด้วยกันในการออกแบบ จึงสามารถทำการวัดอัตโนมัติ (NeoAction) ได้
แสดงภาพที่สังเกตและวิเคราะห์องค์ประกอบทางเคมีบนหน้าจอเดียวกัน
ตัวอย่าง: โลหะผสม
02. แผนที่แบบเรียลไทม์
แสดงภาพการกระจายตัวของธาตุต่างๆ
ในเวลาจริง
ตัวอย่าง: พื้นผิวการแตกหักของโลหะ
03. ถ่ายทอดสด 3D
เผยให้เห็นลักษณะภูมิประเทศของพื้นผิวได้ทันที
ตัวอย่าง: ภาพตัดขวางของชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์
04. อนุภาคมีชีวิต
การวัดขนาดอนุภาคอัตโนมัติ
อนุภาคจะถูกตรวจจับโดยอัตโนมัติจากภาพ SEM การกระจายขนาดอนุภาค ขนาดอนุภาคเฉลี่ย และความแปรปรวน สามารถหาได้แบบเรียลไทม์
ตัวอย่าง: อนุภาคซิลิคอนออกไซด์
โหมดสุญญากาศต่ำ
สังเกตตัวอย่างตามสภาพเดิมโดยไม่มีการเตรียมการล่วงหน้า
เมื่อลำแสงอิเล็กตรอนฉายไปยังตัวอย่างที่ไม่นำไฟฟ้า (ฉนวน) อิเล็กตรอนจะสะสมอยู่บนพื้นผิวของตัวอย่าง ทำให้เกิดปรากฏการณ์ที่เรียกว่า "การประจุ" ซึ่งอาจส่งผลให้ภาพซีดจาง บิดเบี้ยว และมีสัญญาณรบกวน ในโหมดสุญญากาศต่ำ การสังเกตอย่างเสถียรสามารถทำได้โดยการเติมก๊าซหรืออากาศเข้าไปในห้องตัวอย่างเพื่อลดการประจุ ตัวอย่างที่เป็นฉนวน เช่น แก้วและเซรามิก รวมถึงตัวอย่างที่ชื้น/ประจุได้ง่าย เช่น อาหาร โพลิเมอร์ และสิ่งมีชีวิต สามารถสังเกตและวิเคราะห์ได้โดยไม่จำเป็นต้องเคลือบผิว
สังเกตและวิเคราะห์ได้อย่างรวดเร็วด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกน (SEM) โดยไม่ต้องเตรียมตัวอย่าง
- ตัวอย่างโหมดสุญญากาศต่ำ -
เหตุใดจึงไม่ลองสังเกตตัวอย่างฉนวนที่ไม่นำไฟฟ้าในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกน (SEM) โดยไม่ต้องมีการเตรียมการใดๆ ก่อน? ในที่นี้ เราจะนำเสนอตัวอย่างการใช้งานที่มีประสิทธิภาพของ JCM-7000 ในโหมดสุญญากาศต่ำ (LV) สำหรับวัสดุพอลิเมอร์ วัสดุอุตสาหกรรม แร่ธาตุ อาหาร และตัวอย่างทางชีวภาพ/พืช
การปรับภาพอัตโนมัติ x โหมดสุญญากาศสูง x ความละเอียดสูง
ได้ความละเอียด 6 นาโนเมตร
JCM-7000Plus ใช้ แรงดันขณะลงจอด (แรงดันเร่ง) สูงถึง 20 kV! ฟังก์ชันปรับภาพอัตโนมัติที่ได้รับการปรับปรุงและโหมดสุญญากาศสูงที่ได้รับการพิสูจน์แล้วจากรุ่นก่อนหน้า ช่วยเพิ่มความละเอียดให้สูงขึ้นไปอีก! การสังเกตที่มีความละเอียดสูงและการวิเคราะห์ EDS ที่มีความแม่นยำสูง มอบข้อมูลที่มีคุณภาพสูงขึ้น
ตัวอย่าง: อนุภาคซิงค์ออกไซด์
ตัวอย่าง: เส้นใยนาโนไคติน
(โดยใช้ตัวยึด STEM แบบง่าย)
ตัวอย่างได้รับจากบริษัท โอมูราโทริโอ จำกัด
ตัวอย่าง: วัสดุก่อสร้างที่มีส่วนประกอบของแอสเบสตอส
โหมดสุญญากาศสูง
การสังเกตและการวิเคราะห์ที่มีความแม่นยำสูง
ในโหมดสุญญากาศสูง การกระเจิงของอิเล็กตรอนมีน้อยมาก และสามารถตรวจจับอิเล็กตรอนทุติยภูมิได้อย่างมีประสิทธิภาพ ทำให้สามารถสังเกตโครงสร้างจุลภาคได้อย่างชัดเจนที่กำลังขยายสูง นอกจากนี้ ยังสามารถวิเคราะห์ธาตุด้วยข้อผิดพลาดเชิงคุณภาพที่ลดลงได้ในการวิเคราะห์ EDS แม้จะเป็นกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบตั้งโต๊ะ แต่ก็ให้ข้อมูลที่มีความแม่นยำสูงทั้งสำหรับการสังเกตรูปร่างและการวิเคราะห์ธาตุ
ฟังก์ชันอัตโนมัติที่ได้รับการปรับปรุง
นีโอแอคชั่น
ทำการวัดซ้ำๆ โดยอัตโนมัติ
Neo Action (ตัวเลือกเสริม) เป็นฟังก์ชันของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกน (SEM) ที่สามารถสังเกต/วิเคราะห์ชิ้นงานโดยอัตโนมัติ ด้วยการเปลี่ยนแปลงเงื่อนไขต่างๆ เช่น แรงดัน/สัญญาณที่ตกกระทบ การปรับภาพอัตโนมัติ และการเปลี่ยนตำแหน่งตามขั้นตอนการทำงานที่กำหนดไว้ล่วงหน้า เสมือนว่ามีผู้ควบคุมการทำงานอยู่
これにより สามารถทำงานประจำได้โดยอัตโนมัติ ตั้งแต่การเก็บรวบรวมข้อมูลไปจนถึงการสร้างรายงาน
การตัดต่อ
การเก็บรวบรวมข้อมูลอัตโนมัติจากพื้นที่กว้าง
เป็นฟังก์ชันที่ทำการวัดพื้นที่ขนาดกว้างระดับมิลลิเมตรตามที่กำหนดโดยอัตโนมัติ
เครื่อง SEM จะเคลื่อนแท่นวางตัวอย่างโดยอัตโนมัติและบันทึกภาพ จากนั้นจะนำภาพ SEM ที่ได้มาต่อกันเพื่อสร้างภาพหรือแผนที่พื้นที่กว้าง
เนื่องจากสามารถถ่ายภาพที่มีความละเอียดสูงในมุมมองกว้าง จึงช่วยให้สามารถวิเคราะห์โครงสร้างโดยรวมไปจนถึงบริเวณเฉพาะจุดได้ และให้ข้อมูลที่เข้าใจง่ายแม้แต่ผู้ใช้ที่ไม่ได้ทำการวัดเองก็ตาม
การวิเคราะห์มุมมองหลายด้าน
การวัดอัตโนมัติของหลายฟิลด์
การวัดอัตโนมัติในหลายตำแหน่งสามารถทำได้แม้จะมีมุมมองที่แตกต่างกัน เพียงแค่ระบุเงื่อนไขการเก็บข้อมูลและพื้นที่วิเคราะห์ การควบคุมแท่นวางที่มีความแม่นยำสูงช่วยให้การเก็บข้อมูลมีความเสถียร
ข้อบ่งชี้จำเพาะ
ข้อกำหนดหลัก
| ความละเอียด | 6.0 นาโนเมตร (20 กิโลโวลต์, WD 12 มม., โหมดสุญญากาศสูง, ภาพอิเล็กตรอนทุติยภูมิ) 8.0 นาโนเมตร (20 กิโลโวลต์, WD12 มม., โหมดสุญญากาศสูง, ภาพอิเล็กตรอนกระเจิงกลับ) |
|---|---|
| กำลังขยายโดยตรง | ×10 ถึง 100,000 (กำลังขยายกำหนดโดย 128 มม. × 96 มม.) |
| โหมด | โหมดสุญญากาศสูง: ภาพอิเล็กตรอนทุติยภูมิ, ภาพอิเล็กตรอนกระเจิงกลับ (องค์ประกอบภาพ, ภูมิประเทศและเงา, ภาพสามมิติ) โหมดสุญญากาศต่ำ: ภาพอิเล็กตรอนกระเจิงกลับ (องค์ประกอบภาพ, ภูมิประเทศและเงา, ภาพสามมิติ) |
| แรงดันไฟฟ้าลงจอด (แรงดันเร่ง) |
5 kV, 10 kV, 15 kV, 20 kV (4 ขั้น) |
| แหล่งกำเนิดอิเล็กตรอน | ไส้หลอดทังสเตน/ตะแกรงรวม Wehnelt |
| ขั้นตอนตัวอย่าง | สเตจขับมอเตอร์ XY X: 40 มม. Y: 40 มม. |
| ขนาดตัวอย่างสูงสุด | เส้นผ่านศูนย์กลาง 80 มม. × สูง 50 มม. |
ดาวน์โหลดแคตตาล็อก
การใช้งาน
รูปภาพ
วัสดุก่อสร้างที่มีส่วนประกอบของแอสเบสตอส
การจำแนกแร่
แผงวงจร
การวิเคราะห์ความล้มเหลว
แบคทีเรียกรดแลคติก
การสังเกตจุลินทรีย์
ภาพตัดขวางของใบแครอท
การสังเกตภายใน
แอปพลิเคชันที่เกี่ยวข้องกับ JCM-7000Plus
ภาพตัดขวางของเส้นก๋วยเตี๋ยวที่สังเกตได้จากอุณหภูมิความเย็นต่างๆ
ข้อมูลเพิ่มเติม
【รายชื่อผลงานจัดแสดงที่คัดเลือกแล้ว】พิพิธภัณฑ์ธรรมชาติอิบารากิ
พิพิธภัณฑ์ธรรมชาติวิทยาอิบารากิ (บันโด จังหวัดอิบารากิ) ได้นำกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกน (SEM) ขนาดตั้งโต๊ะมาจัดแสดง ซึ่งผู้เข้าชมสามารถใช้งานได้เอง โดยการดำเนินการทั้งหมดที่จำเป็นสำหรับการสังเกตการณ์จะทำผ่านแผงสัมผัส นับเป็นนิทรรศการใหม่ที่น่าสนใจที่จะทำให้เด็กๆ "อยากกลับมาเยี่ยมชมอีกครั้ง"
ความแตกต่างระหว่างกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM/TEM) และกล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสง (OM) - กลไก คุณสมบัติ และตัวอย่างการสังเกต
โครงสร้างขนาดเล็กที่ไม่สามารถมองเห็นได้ด้วยตาเปล่า สามารถสังเกตได้อย่างละเอียดเมื่อใช้กล้องจุลทรรศน์ รูปด้านล่างแสดงให้เห็นถึงความแตกต่างของขนาดและความละเอียดที่สามารถมองเห็นได้ระหว่าง "ตาของมนุษย์" "กล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสง" และ "กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM)"
คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?
โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป