สเปกโตรมิเตอร์รังสีเอกซ์แบบกระจายพลังงาน
EDS สำหรับ JEOL SEM
EDS (Energy Dispersive X-ray Spectrometer) เป็นอุปกรณ์เสริมสำหรับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ตรวจจับรังสีเอกซ์ลักษณะเฉพาะที่ปล่อยออกมาจากตัวอย่างโดยการฉายรังสีอิเล็กตรอน ทำให้สามารถวิเคราะห์ธาตุได้
JEOL เป็นผู้ผลิตรายเดียวที่มีทั้งกล้องจุลทรรศน์ EDS และกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนภายในบริษัท JEOL นำเสนอ EDS ที่พัฒนาโดย JEOL สำหรับ SEM แต่ละรุ่นโดยเฉพาะ
ด้วยการบูรณาการอย่างสมบูรณ์กับหน้าจอการทำงานของ SEM ทำให้สามารถวิเคราะห์โดยตรงจากหน้าจอการสังเกตได้ตลอดเวลา แม้ในระหว่างการทำงาน SEM
ตารางพลังงานสำหรับการวิเคราะห์ EDS สำหรับการดาวน์โหลด
คุณสามารถดาวน์โหลดข้อมูล PDF ของตารางพลังงานรังสีเอกซ์ลักษณะเฉพาะสำหรับการวิเคราะห์ EDS ได้ที่นี่ เราหวังว่าคุณจะพบว่าข้อมูลนี้มีประโยชน์ต่อการทำงานและการวิจัยของคุณ
คุณสมบัติ
ไอคอนการทำงานสำหรับการดำเนินการแบบง่ายที่ผสานรวมกับ SEM
การแสดงสเปกตรัม EDS (การวิเคราะห์แบบสด) และแผนที่ธาตุ (แผนที่สด) สามารถทำได้ตลอดเวลาแม้ในระหว่างการสังเกตด้วย SEM
ภาพและภาพยนตร์เป็นตัวอย่างของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดบนโต๊ะรุ่น JCM-7000 NeoScope™
การสร้างชั้นโลหะผสมอัตโนมัติจากแผนที่ธาตุ!
การวิเคราะห์เฟสที่เรียบง่ายและมีประโยชน์
แสดงการกระจายของธาตุต่อสารประกอบเท่านั้น!
การแสดงภาพสามารถทำได้ด้วยการวิเคราะห์เฟส 2 ประเภท (คลัสเตอร์และ VCA)
สำหรับการวิเคราะห์เฟส (ในกรอบสีแดง) การคลิกปุ่มเพียงครั้งเดียวจะแยกเฟสออกจากข้อมูลการแมป
การวิเคราะห์เฟสคลัสเตอร์ --- สารประกอบเดียวกันแสดงเป็นสีเดียวกัน
การวิเคราะห์เฟส VCA --- สารประกอบที่มีความแตกต่างของเฉดสี (แสดงส่วนประกอบมากขึ้น/น้อยลง)
โดยพื้นฐานแล้วมันเป็นอัตโนมัติ แต่สามารถตั้งค่าจำนวนเฟสด้วยตนเองได้
ภาพองค์ประกอบอิเล็กตรอนแบบกระเจิงกลับ
โหมดการวิเคราะห์เฟสคลัสเตอร์
อย่าพลาดการเปลี่ยนแปลงองค์ประกอบหรือตัวอย่าง!
บันทึกการเปลี่ยนแปลงตามเวลาของ EDS โดยการวิเคราะห์การเล่นกลับ
ตัวอย่างการใช้งาน 1
มีประโยชน์สำหรับการสังเกตการเปลี่ยนแปลงการกระจายของรูปร่าง/ธาตุ (การสังเกตในสถานที่) โดยการให้ความร้อน/ความเย็นภายใน SEM！
ได้รับแผนที่องค์ประกอบของ EDS ของพื้นผิวยางลบแล้วสร้างเป็นภาพยนตร์โดยการวิเคราะห์การเล่นซ้ำ (ความเร็ว 140 เท่า)
ภาพยนตร์เรื่องนี้ถ่ายทอดภาพพื้นผิวของยางลบทรายที่เปลี่ยนรูปไปจากลำแสงอิเล็กตรอน และการกระจายตัวของธาตุที่เปลี่ยนไปตามนั้น
ตัวอย่างการใช้งาน 2
เมื่อตัวอย่างเกิดการเสียรูประหว่างการแมปธาตุ ฟังก์ชันนี้จะดึงข้อมูลออกมาเฉพาะก่อนการเสียรูปเท่านั้นและส่งข้อมูลนั้นได้!
ตัวอย่างการใช้งาน 3
มีประโยชน์สำหรับการปรับ/ประมาณจำนวนการรวมสำหรับการแมปองค์ประกอบ!
พันธมิตรที่เชื่อถือได้สำหรับการวัดจำนวนอนุภาค ขนาด และข้อมูลธาตุโดยอัตโนมัติ! การวิเคราะห์อนุภาค
ข้อบ่งชี้จำเพาะ
ข้อกำหนดทั่วไปของ JEOL EDS
ประเภทเครื่องตรวจจับ: SDD (ไนโตรเจนเหลว)
องค์ประกอบที่ตรวจจับได้: เป็นถึงคุณ
ฟังก์ชันมาตรฐาน: การวิเคราะห์เชิงคุณภาพ การวิเคราะห์เชิงปริมาณแบบง่าย แผนที่ธาตุ การตัดต่อแผนที่
ฟังก์ชันเสริม: การวิเคราะห์เฟส, การเล่นซ้ำ, การวิเคราะห์อนุภาค ฯลฯ
| เจซีเอ็ม-7000 | JSM-IT210 | JSM-IT510 JSM-IT710HR |
JSM-IT810 | |
|---|---|---|---|---|
| พื้นที่รับแสง (มม.2) | 30 | 30, 60 | 30, 60, 100 | 30, 60, 100 |
| EDS หลายรายการ | ー | ー | 〇 (สูงสุด 3) | 〇 (สูงสุด 3) |
| เครื่องตรวจจับ Gather-X | ー | ー | ー | 〇 (สูงสุด 3) |
* ตัวเลขที่เป็นตัวหนาคือข้อมูลจำเพาะมาตรฐานของเครื่องมือแต่ละชนิด
การบูรณาการของ SEM และ EDS ช่วยให้สามารถแทรก EDS ได้หลายครั้งเพื่อสังเกตตัวอย่างที่ไม่สม่ำเสมอโดยไม่มีเงา และช่วยเร่งความเร็วและกำจัดความเสียหายต่อตัวอย่างที่อาจได้รับความเสียหายจากลำแสงอิเล็กตรอนได้!
สินค้าที่เกี่ยวข้อง
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM)
ข้อมูลเพิ่มเติม
คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?
ไม่
โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป