JSM-IT810
การปล่อยสนามชอตกี
สแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน

ความคล่องตัวและความละเอียดเชิงพื้นที่สูงพบกับระบบอัตโนมัติด้วย JSM-IT810 ซีรีส์ FE-SEM
ระบบอัตโนมัติแบบไม่ต้องเข้ารหัสสำหรับการสร้างภาพและการวิเคราะห์ EDS มีมาให้ในตัวเพื่อขั้นตอนการทำงานที่คล่องตัวและมีประสิทธิภาพ
มีฟังก์ชันใหม่เพื่อให้มั่นใจว่าข้อมูลมีคุณภาพสูงและประสบการณ์ผู้ใช้ที่ได้รับการปรับปรุงสำหรับผู้ใช้ SEM ทุกคน
ฟังก์ชันประกอบด้วยแพ็คเกจการปรับอัตโนมัติ SEM ฟังก์ชันการแก้ไขรูปสี่เหลี่ยมคางหมู (มีประโยชน์สำหรับการวัด EBSD) และการสร้างพื้นผิว Live 3D ขึ้นใหม่เพื่อการสังเกตภูมิประเทศของพื้นผิว
การใช้งาน FE SEM ง่ายกว่าที่เคยด้วยซีรีส์ JSM-IT810

คุณสมบัติ

ฟังก์ชันสังเกตและวิเคราะห์อัตโนมัติ "Neo Action"

การสังเกต SEM และการวิเคราะห์ EDS สามารถทำให้เป็นอัตโนมัติได้ เพียงตั้งค่าเงื่อนไขการวิเคราะห์ และเลือกพื้นที่ที่จะวัด

ตัวอย่าง:
Chondrules ใน chondrite Julesberg (L3.6)
แรงดันลงจอด: 5 kV

แพ็คเกจปรับอัตโนมัติ SEM

แพ็คเกจการปรับอัตโนมัติ SEM (ตัวเลือก): คุณลักษณะนี้ใช้ตัวอย่างเฉพาะเพื่อทำการสอบเทียบกำลังขยาย การจัดแนวลำแสง และการสอบเทียบพลังงาน EDS การตรวจสอบเป็นประจำทำให้มั่นใจได้ว่าอุปกรณ์ยังคงอยู่ในสภาพที่เหมาะสมที่สุด

ฟังก์ชั่น Live-3D

เลือกเครื่องตรวจจับ BSE ชนิดเซมิคอนดักเตอร์แบบหลายส่วนเพื่อสร้างพื้นผิวตัวอย่างแบบ Live 3D ขึ้นมาใหม่
ดูภาพ 3 มิติแบบเรียลไทม์เพื่อตรวจสอบโทโพโลยีตัวอย่าง

การรวม EDS

ความสามารถในการทำงานยุคถัดไปที่ขจัดอุปสรรคระหว่างการสังเกตด้วย SEM และการวิเคราะห์องค์ประกอบโดย EDS วิธีการวิเคราะห์ต่างๆ เช่น จุด พื้นที่ MAP และเส้น สามารถจองไว้บนหน้าจอการสังเกตได้โดยตรง ช่วยให้เริ่มการวิเคราะห์ได้ทันที

ข้อบ่งชี้จำเพาะ

โปรดดูโบรชัวร์

ดาวน์โหลดแคตตาล็อก

เร็ว ๆ นี้.

สินค้าที่เกี่ยวข้อง

Gather-X JED Series DrySD™ EDS แบบไม่มีหน้าต่าง

สเปกโตรมิเตอร์เอ็กซ์เรย์แบบอ่อน (SXES)

อุปกรณ์สำหรับเตรียมตัวอย่าง (CP)

ข้อมูลเพิ่มเติม