JSM-IT500 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด InTouchScope™
ยกเลิก
JSM-IT500 เป็นรุ่นใหม่ของซีรีส์ JEOL InTouchScope™
ด้วยชุดการวิเคราะห์ที่ซับซ้อนของเรา JSM-IT500 อำนวยความสะดวกในการวิเคราะห์ใดๆ ตั้งแต่การบรรจุตัวอย่างไปจนถึงการสร้างรายงาน
คุณสมบัติ
วิดีโอแนะนำ JSM-IT500
◆การคลิกปุ่มเล่นจะเริ่มวิดีโอ (ประมาณ 2 นาที)
◆ แนะนำคุณสมบัติและฟังก์ชันของ JSM-IT500 InTouchScope™
3 ประเด็นสำคัญ วิเคราะห์ง่ายและรวดเร็ว!
①
ประเด็นสำคัญ 1: Zeromag
ภาพกราฟิกผู้ถือหรือภาพ CCD ที่แสดงช่วยให้คุณระบุตำแหน่งตัวอย่างหรือระบุตำแหน่งการวิเคราะห์ได้ คุณสามารถค้นหาพื้นที่ตัวอย่างได้อย่างรวดเร็วและระบุตำแหน่งสำหรับการวิเคราะห์ซีเรียลแบบหลายฟิลด์
②
ประเด็นสำคัญ 2: การวิเคราะห์แบบสด (สำหรับ A/LA เท่านั้น)
ด้วย "การวิเคราะห์แบบสด" ระบบ EDS ในตัวจะแสดงสเปกตรัม EDS แบบเรียลไทม์ระหว่างการสังเกตภาพ องค์ประกอบองค์ประกอบหรือ "การแจ้งเตือน" สำหรับองค์ประกอบที่น่าสนใจจะแสดงบนภาพสด
③
ประเด็นสำคัญ 3: ซอฟต์แวร์การจัดการข้อมูลแบบบูรณาการ
ซอฟต์แวร์ที่ใช้งานง่ายนี้ทำให้คุณสามารถเลือกและตรวจสอบภาพ SEM และผลการวิเคราะห์ผ่านพื้นที่การจัดการข้อมูล คุณยังสามารถสร้างรายงานได้ด้วยคลิกเดียว
ประเด็นสำคัญ 1 : Zeromag สำหรับการผสานรวมของการถ่ายภาพด้วยแสงและ SEM อย่างแท้จริง
การทำงานที่ราบรื่นจนถึงการสังเกตด้วยกำลังขยายสูง!
"Zeromag" อำนวยความสะดวกในการนำทางด้วยการเปลี่ยนจากภาพ CCD แบบออปติคัลเป็นภาพ SEM ได้อย่างราบรื่น
ด้วย Zeromag การสังเกตพื้นที่ขนาดใหญ่อย่างง่ายอัตโนมัติและการวิเคราะห์ EDS สามารถทำได้
การตั้งค่าการตัดต่อด้วย Zeromag
ผลการตัดต่อ: 4 x 4
(ซ้าย: ภาพองค์ประกอบอิเล็กตรอนที่กระจัดกระจาย ขวา: แผนที่ Ca)
ตัวอย่าง: คอนกรีต แรงดันเร่ง: 15 kV
โหมดสุญญากาศสูง พื้นที่: ประมาณ. 4 มม. x 3 มม
ด้วย Zeromag จะเป็นเรื่องง่ายที่จะตั้งค่าพื้นที่ตัดต่อหนึ่งพื้นที่หรือมากกว่าสำหรับการถ่ายภาพและการวิเคราะห์ ฟังก์ชัน “ตัดต่อ” มีประสิทธิภาพในการรับข้อมูลโดยละเอียดเพื่อระบุวัสดุแปลกปลอมในพื้นที่ขนาดใหญ่
ประเด็นสำคัญ 2: การวิเคราะห์สด － SEM และ EDS แบบไม่มีรอยต่อ －
ด้วยชุดการวิเคราะห์ของเรา (การวิเคราะห์แบบสด) ระบบ EDS จะแสดงสเปกตรัม EDS แบบเรียลไทม์ในระหว่างการสังเกตภาพ คุณจะพบองค์ประกอบที่น่าสนใจและองค์ประกอบที่ไม่คาดคิดได้อย่างง่ายดาย
①
ธาตุ
องค์ประกอบหลักที่มีอยู่ในพื้นที่การวัดจะปรากฏขึ้น คุณสามารถแสดง "การแจ้งเตือน" โดยการระบุองค์ประกอบ
②
สเปกตรัม
สเปกตรัมเอ็กซ์เรย์ที่มีลักษณะเฉพาะจากพื้นที่การวิเคราะห์และผลการวิเคราะห์เชิงคุณภาพอัตโนมัติจะแสดงอยู่เสมอ
③
คลิกครั้งเดียว ช่วยให้คุณสามารถสลับระหว่างหน้าจอการทำงานของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนและหน้าจอแสดงรายละเอียดการวิเคราะห์ได้
ประเด็นสำคัญ 3: ซอฟต์แวร์การจัดการข้อมูลแบบบูรณาการ SMILE VIEW™ Lab สำหรับการสร้างรายงานที่ราบรื่น
SMILE VIEW™ Lab เป็นซอฟต์แวร์การจัดการข้อมูลแบบบูรณาการอย่างสมบูรณ์ ซึ่งเชื่อมโยงภาพ CCD, ภาพ SEM, ผลการวิเคราะห์ EDS และพิกัดขั้นตอนที่สอดคล้องกันสำหรับการสร้างรายงานอย่างรวดเร็วหรือการเรียกตำแหน่งตัวอย่างซ้ำเพื่อการศึกษาต่อไป
①
ชื่อของแต่ละฟิลด์จะปรากฏขึ้น
②
เปิดใช้งานการค้นหาข้อมูลจากชื่อตัวอย่าง เวลาสร้าง ประเภทข้อมูล ฯลฯ
③
ตำแหน่งของแต่ละฟิลด์จะแสดงบน Holder Graphics หรือ CCD image
④
ข้อมูลจะแสดงในรูปแบบรายการ ซึ่งรวมถึงข้อมูลการวิเคราะห์ ผลการวิเคราะห์เชิงปริมาณของแผนที่องค์ประกอบ สเปกตรัม ฯลฯ ในฟิลด์ที่เลือก
ข้อบ่งชี้จำเพาะ
| ความละเอียด | โหมดสุญญากาศสูง: 3.0 นาโนเมตร (30 กิโลโวลต์) 15.0 นาโนเมตร (1.0 กิโลโวลต์) |
|---|---|
| โหมดสูญญากาศต่ำ※ 1: 4.0 นาโนเมตร (30 kV เตียง) | |
| กำลังขยายโดยตรง | x 5 ถึง x 300,000
(กำหนดด้วยขนาดจอแสดงผล 128 มม. x 96 มม.) |
| กำลังขยายที่แสดง | × 14 ถึง × 839,724 (บนจอภาพ)
(ท้าทายด้วยขนาดจอแสดงผล 358 มม. x 269 มม.) |
| ปืนอิเล็กตรอน | W ฟิลาเมนต์ การจัดตำแหน่งปืนอัตโนมัติเต็มรูปแบบ |
| แรงดันไฟฟ้าเร่ง | 0.3 kV ถึง 30kV |
| โพรบปัจจุบัน | 1 pA ถึง 1 μA |
| การปรับแรงดันสุญญากาศต่ำ※ 1 | 10 ถึง 650Pa |
| รูรับแสงของเลนส์ใกล้วัตถุ | 3 ระดับพร้อมฟังก์ชันการปรับ XY แบบละเอียด |
| ฟังก์ชั่นอัตโนมัติ | การปรับเส้นใย, การจัดตำแหน่งปืน,
โฟกัส / สติกมาเตอร์ / ความสว่าง / คอนทราสต์ |
| ขนาดตัวอย่างสูงสุด | เส้นผ่านศูนย์กลาง 200 มม. ความสูง x 75 มม.
เส้นผ่านศูนย์กลาง 200 มม. x สูง 80 มม. ※ตัวเลือก เส้นผ่านศูนย์กลาง 32 มม. x สูง 90 มม. ※ตัวเลือก |
| ขั้นตอนตัวอย่าง | ประเภทยูเซนตริกขนาดใหญ่
X: 125 มม., Y: 100 มม., Z: 80 มม. เอียง: -10° ถึง 90° การหมุน: 360° |
| ฟังก์ชั่นตัดต่อ | Built-in |
| การแสดงพิกัดตำแหน่งการวัด | เส้นผ่านศูนย์กลาง 203 มม. |
| สูตรมาตรฐาน | ในตัว (รวมถึงฟังก์ชั่น EDS ※ 2) |
| โหมดภาพ | ภาพอิเล็กตรอนทุติยภูมิ ภาพ REF
ภาพองค์ประกอบ ※ 1 ภาพภูมิประเทศ※ 1 ภาพสเตอริโอกล้องจุลทรรศน์ ※ 1 เป็นต้น |
| พิกเซลสำหรับการรับภาพ | 640 x 480 1,280 x 960
2,560 x 1920 5,120 x 3,840 |
| OS | Microsoft® Windows®10 64 บิต |
| จอภาพสังเกตการณ์ | จอสัมผัส 23 นิ้ว |
| ฟังก์ชัน EDS ※ 2 | การวิเคราะห์สเปกตรัม การวิเคราะห์เชิงคุณภาพและเชิงปริมาณ
การวิเคราะห์เส้น (เส้นแนวนอน เส้นทิศทางเฉพาะ) การทำแผนที่องค์ประกอบ การติดตามโพรบ ฯลฯ |
| ฟังก์ชั่นการวัด | ในตัว (ระยะห่างระหว่าง 2 จุด, ระยะห่างระหว่างเส้นขนาน, มุม, เส้นผ่านศูนย์กลาง ฯลฯ) |
| ฟังก์ชันการจัดการข้อมูล | ห้องแล็บสไมล์วิว™ |
| ฟังก์ชันการสร้างรายงาน | ห้องแล็บสไมล์วิว™ |
| เปลี่ยนภาษา | ใช้งานได้บน UI (อังกฤษ / ญี่ปุ่น) |
| ระบบสูญญากาศ | อัตโนมัติเต็มรูปแบบ TMP: 1
RP: 1 หรือ 2 ※ 1 |
Windows เป็นเครื่องหมายการค้าจดทะเบียนของ Microsoft Corporation ในสหรัฐอเมริกาและประเทศอื่น ๆ
ตัวเลือกหลัก
- เครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนแบบกระจัดกระจาย (BED) ※1
- เครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนทุติยภูมิต่ำ (LSED)
- เอ็กซ์เรย์สเปกโตรมิเตอร์แบบกระจายพลังงาน (EDS) ※2
- เอ็กซ์เรย์สเปกโตรมิเตอร์แบบกระจายความยาวคลื่น (WDS)
- เครื่องตรวจจับการเลี้ยวเบนกลับของอิเล็กตรอน (EBSD)
- Load Lock Chamber (ห้องแลกเปลี่ยนล่วงหน้า)
- ระบบนำทางบนเวที (SNS)
- ขอบเขตห้อง (CS)
- แผงการทำงาน
- ซอฟต์แวร์การวัด 3 มิติ
- ตาราง
มาตรฐานใน JSM-IT500LV/LA
มาตรฐานใน JSM-IT500A/LA
ดาวน์โหลดแคตตาล็อก
JSM-IT500 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด InTouchScope™
การใช้งาน
แอปพลิเคชัน JSM-IT500
ข้อมูลเพิ่มเติม
คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?
ไม่
โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป