JSM-IT300 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด InTouchScope™
ยกเลิก
นอกเหนือจากการสังเกตคุณภาพของภาพระดับสูงเนื่องจากการปรับปรุงระบบส่องสว่าง ระบบสุญญากาศ และระบบประมวลผลสัญญาณแล้ว JSM-IT300 ยังเป็นกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ซึ่งสามารถทำงานได้ด้วยปริมาณงานสูงโดยใช้การทำงานของแผงสัมผัสและ เวทีความเร็วสูง
คุณสมบัติ
ฟังก์ชั่นขั้นสูง
คุณภาพของภาพ
เลนส์อิเล็กตรอนที่ได้รับการปรับปรุงเพื่อคุณภาพของภาพที่สูงขึ้น การถ่ายภาพและการวิเคราะห์ที่เร็วขึ้น
ชาร์จน้อยลง
โหมดการสแกนใหม่ยับยั้งการชาร์จของวัตถุด้วยตัวอย่างที่ไม่นำไฟฟ้า
โหมดสุญญากาศต่ำ (LV)
ช่วงแรงดันสุญญากาศต่ำตั้งแต่ 10 ถึง 650Pa ขยายช่วงของวัสดุที่สามารถสังเกตได้อย่างง่ายดาย
การนำทางของตัวอย่าง
สเตจมอเตอร์ 5 แกนอัตโนมัติเต็มรูปแบบช่วยเพิ่มความเร็วในการค้นหาภูมิภาคที่น่าสนใจ (ROI)
เข้าถึง ROI อย่างรวดเร็วจากภาพสีโดยใช้ Stage Navigation System (ตัวเลือก)
การวิเคราะห์
โหมดกระแสสูง กระแสโพรบสูงถึง 1μA (≥20kV)
เลนส์คอนเดนเซอร์ซูมขั้นสูงช่วยลดภาพและการเปลี่ยนโฟกัสเนื่องจากการเปลี่ยนแปลงของโพรบในปัจจุบัน
การหมุนเวทีแบบ eucentric ของคอมพิวเตอร์ช่วยให้วางตำแหน่งของชิ้นงานหรือ ROI ได้ง่าย
อเนกประสงค์
ห้องขนาดใหญ่และเวที
สามารถรับชิ้นงานขนาดใหญ่และหนัก ตั้งแต่เส้นผ่านศูนย์กลาง 200 มม. × สูง 80 มม. และสูงสุด 2 กก.
เรขาคณิตพอร์ตวิเคราะห์
หลายพอร์ตสำหรับอุปกรณ์เสริมต่างๆ เช่น: EDS, EBSD และ WDS เรขาคณิต EDS และ EBSD ระนาบร่วม ดูอัล
สามารถติดตั้งเครื่องตรวจจับ EDS ได้ที่ 180° สำหรับการวิเคราะห์ไมโครปริมาณงานสูง
การเคลื่อนไหวบนเวทีที่เร็วขึ้น
แท่นวางแบบใช้มอเตอร์ที่พัฒนาขึ้นใหม่ช่วยให้กำหนดตำแหน่งได้เร็วขึ้น (เร็วขึ้น 1.5 เท่า เมื่อเทียบกับผลิตภัณฑ์ JEOL อื่นๆ)
สเตจมอเตอร์ 5 แกนอัตโนมัติเต็มรูปแบบ
สเตจควบคุมมอเตอร์ 5 แกนแบบยูเซนตริกแบบอะซิงโครนัส (X, Y, Z, T, R)
การแก้ไขการเอียงและการหมุนด้วยคอมพิวเตอร์ที่มีจุดศูนย์กลางในตัวสำหรับชิ้นงานทดสอบทรงสูงหรือเมื่อ ROI ไม่ได้อยู่กึ่งกลางแกนหมุน
ระบบสุญญากาศใหม่
ระบบสุญญากาศใหม่สำหรับการปั๊มลงอย่างรวดเร็วหลังจากเปลี่ยนชิ้นงาน สัญญาณที่ดีขึ้นในโหมดสูญญากาศต่ำ
ใช้งานง่าย
ในอินเทอร์เฟซแบบสัมผัส
การใช้งานที่สะดวกสบายทำได้ด้วยส่วนต่อประสานกราฟิกกับผู้ใช้ (GUI) ที่ออกแบบและพัฒนาใหม่ซึ่งสั่งงานผ่านหน้าจอสัมผัส ขนาด GUI สามารถปรับได้เพื่อให้พื้นที่ทำงานได้รับการปรับให้เหมาะสมในขณะที่ทำการวิเคราะห์หรือประมวลผลข้อมูล
ผู้ใช้หลายคน/หลายงาน
ฟังก์ชันการเข้าสู่ระบบของผู้ใช้หลายคนสำหรับการตั้งค่าพื้นที่ทำงานและสภาวะของชิ้นงานทดสอบ
มีหลายภาษา
เปลี่ยน GUI ภาษาอังกฤษเป็นภาษาญี่ปุ่นได้ (เลือกผ่านไอคอน)
ข้อบ่งชี้จำเพาะ
| ความละเอียดโหมด HV | 3.0 นาโนเมตร (30 kV) 15.0 นาโนเมตร (1.0 kV) |
|---|---|
| ความละเอียดโหมด LV | 4.0 นาโนเมตร (30 kV เตียง) |
| การอวดอ้าง | ×5 ถึง ×300,000 |
| การขยายที่ตั้งไว้ล่วงหน้า | 6 ระดับ (ผู้ใช้สามารถตั้งค่าได้) |
| ปืนอิเล็กตรอน | อัตโนมัติเต็มรูปแบบ / ปรับด้วยตนเองที่มีอยู่ |
| ใย | ไส้กิ๊บทังสเตนที่อยู่ตรงกลางจากโรงงาน |
| แรงดันไฟฟ้าเร่ง | 0.3 กิโลโวลต์เพื่อ 30 กิโลโวลต์ |
| โพรบปัจจุบัน | 1 pA ถึง 1 μA |
| ช่วงการตั้งค่าแรงดันสุญญากาศต่ำ*1 | 10 ถึง 650 Pa |
| เลนส์คอนเดนเซอร์ | เลนส์คอนเดนเซอร์ซูมความแม่นยำสูง |
| เลนส์ใกล้วัตถุ | เลนส์ทรงกรวย |
| รูรับแสงของเลนส์ใกล้วัตถุ | เลือกได้ 3 ขั้นตอนพร้อมปุ่มหยุดคลิก
ปรับตำแหน่งอย่างละเอียดใน X และ Y ได้ |
| ความจำสายตาเอียง | Available |
| การเปลี่ยนภาพ | ±50 μm (WD 10 มม.) |
| ฟังก์ชั่นอัตโนมัติ | โฟกัส
ความสว่าง/ความคมชัด การแก้ไขสายตาเอียง |
| การแลกเปลี่ยนตัวอย่าง | เปลี่ยนโดยเปิดประตูห้องเก็บตัวอย่าง |
| ตัวอย่างสูงสุด | เส้นผ่านศูนย์กลาง: 200 มม. ความสูง: 80 มม. (WD10 มม.) |
| ขั้นตอนตัวอย่าง | ระยะยูเซนตริกโกนิโอมิเตอร์
(ระยะขับมอเตอร์ 5 แกน) X:125 มม. Y:100 มม. Z:80 มม ความเอียง: -10 ถึง 90° การหมุน: 360° |
| ตำรับ | Available |
| โหมดภาพ | ภาพอิเล็กตรอนทุติยภูมิ ภาพ REF
ภาพองค์ประกอบ ภาพภูมิประเทศ ภาพเงา |
| หน้าต่างเปรียบเทียบ (สแนปช็อต) | 6 ภาพ (บันทึก, โหลด, สภาพภาพสามารถทำซ้ำได้) |
| OS | วินโดวส์®7 |
| การตรวจสอบ | จอสัมผัส 23 นิ้ว
(ความละเอียดการแสดงผล 1,920 × 1,080) |
| จำนวนพิกเซล | 640×480 1,280×960
2,560×1,920 5,120×3,840 |
| โหมดการแสดงภาพ | หลายมุมมอง, มุมมองเต็มหน้าจอ, มุมมองที่ยืดหยุ่น,
เพิ่มสัญญาณ |
| เงยหน้าขึ้นมองตาราง | มี (การแก้ไขแกมม่า, หลอกสี) |
| การแสดงฮิสโตแกรม | Available |
| ฟังก์ชันการวัด | มี (ระยะห่างระหว่าง 2 จุด
ระยะห่างระหว่างเส้นขนาน เส้นผ่านศูนย์กลาง ฯลฯ) |
| การวัด 3D | Available*2 |
| ภาพอนากลิฟ | Available |
| ซอฟต์แวร์สร้างรายงาน | สร้างขึ้นใน |
| การกำหนดค่าภาษา | มีอยู่ใน UI (ญี่ปุ่น/อังกฤษ) |
| รูปแบบภาพ | บีเอ็มพี,TIFF,JPEG |
| บันทึกภาพอัตโนมัติ | Available |
| ระบบอพยพ | ระบบอัตโนมัติเต็มรูปแบบ
TMP: 1 RP: 1 หรือ 2 *1 |
| สลับโหมดสุญญากาศ | มีอยู่ใน UI (HV/LV) |
Windows เป็นเครื่องหมายการค้าจดทะเบียนของ Microsoft Corporation ในสหรัฐอเมริกาและประเทศอื่น ๆ
ตัวเลือกหลัก
เครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนแบบกระจายกลับ*1
เครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนทุติยภูมิสูญญากาศต่ำ
เครื่องวิเคราะห์เอ็กซ์เรย์แบบกระจายพลังงาน (EDS)
เครื่องวิเคราะห์เอ็กซ์เรย์แบบกระจายความยาวคลื่น (WDS)
เครื่องวิเคราะห์การวางแนวคริสตัล
ห้องล็อคโหลด (ห้องแลกเปลี่ยนเบื้องต้น)
ระบบนำทางบนเวที
ขอบเขตหอการค้า
แผงควบคุมการทำงาน
ปืนอิเล็กตรอน LaB6
ซอฟต์แวร์การวัด 3 มิติ*2
ตารางการทำงาน
คุณสมบัติมาตรฐานสำหรับ LV/LA เท่านั้น
ต้องใช้ซอฟต์แวร์เฉพาะสำหรับการวัด
ข้อมูลจำเพาะอาจเปลี่ยนแปลงได้โดยไม่ต้องแจ้งให้ทราบ
การใช้งาน
แอปพลิเคชัน JSM-IT300
รูปภาพ
ข้อมูลเพิ่มเติม
คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?
ไม่
โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป