JSM-IT200 InTouchScope™ กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด | สินค้า

คุณสมบัติ

JSM-IT200 เป็น SEM ที่ใช้งานง่ายซึ่งเน้นที่ประสิทธิภาพด้านต้นทุนของฟังก์ชันระดับสูงของ JSM-IT500 (รุ่นไฮเอนด์) ของ InTouchScope^TMด้วยปริมาณงานที่สูงขึ้นอย่างเห็นได้ชัด
Specimen Exchange Navi ซึ่งเป็นฟังก์ชันสำหรับผู้เริ่มต้นใช้งาน นำเสนอการดำเนินการที่แนะนำตั้งแต่การโหลดตัวอย่างไปจนถึงการค้นหาพื้นที่ และการสังเกตภาพ SEM “Zeromag” สำหรับการเปลี่ยนจากการถ่ายภาพเชิงแสงเป็น SEM อย่างราบรื่น “การวิเคราะห์แบบสด”^*2 สำหรับการแสดงผลการวิเคราะห์องค์ประกอบแบบเรียลไทม์ ห้องแล็บ SMILE VIEW（TM） สำหรับการสร้างรายงานอย่างราบรื่นของการสังเกตและ/หรือผลการวิเคราะห์ ฯลฯ ให้การวิเคราะห์ที่รวดเร็วพร้อมการเปลี่ยนแบบบูรณาการจาก OM เป็น SEM
การสังเกต วิเคราะห์ และสร้างรายงานอย่างรวดเร็ว!
JEOL InTouchScope™ ซีรีส์ เครื่องมือวิเคราะห์ประสิทธิภาพสูงพร้อมฟังก์ชันหลักสามประการ

Navi Exchange ตัวอย่าง: การดำเนินการที่แนะนำตั้งแต่การแนะนำตัวอย่างจนถึงการสังเกต

คำแนะนำทีละขั้นตอนสำหรับการแลกเปลี่ยนตัวอย่าง การตั้งค่าเงื่อนไข และการสร้างภาพอัตโนมัติ

สังเกตด่วน! "ซีโรแม็ก"

คุณสามารถค้นหาพื้นที่ของชิ้นงานทดสอบหรือระบุตำแหน่งการวิเคราะห์ด้วย Holder Graphics หรือ Optical CCD image^*XNUMX แสดงบนหน้าจอหลัก

ภาพ Zeromag ที่แสดงบนหน้าจอหลัก

วิเคราะห์เร็ว! "วิเคราะห์สด"^*2

สเปกตรัมเอ็กซ์เรย์ที่มีลักษณะเฉพาะจากพื้นที่การวัดและองค์ประกอบหลักจะแสดงขึ้นระหว่างการสังเกต

สร้างรายงานด่วน! SMILE VIEW™ Lab: การจัดการข้อมูลแบบบูรณาการ

คลิกครั้งเดียวที่ปุ่มการจัดการข้อมูลจะแสดงหน้าจอการจัดการข้อมูล ช่วยให้คุณสร้างรายงานของรูปภาพและข้อมูลการวิเคราะห์ทั้งหมด ตลอดจนตรวจสอบหรือวิเคราะห์ข้อมูลที่ได้มาแล้วอีกครั้ง