JSM-7900F กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดสนาม Schottky
ยกเลิก
JSM-7900F เป็น FE-SEM รุ่นเรือธงใหม่ของ JEOL ซึ่งรวมเอาภาพที่มีความละเอียดสูง ความเสถียรที่เพิ่มขึ้น และความสะดวกในการใช้งานที่ยอดเยี่ยมสำหรับผู้ปฏิบัติงานทุกระดับในสภาพแวดล้อมอเนกประสงค์
คุณสมบัติ
Neo Engine (เครื่องยนต์ออปติคัลอิเล็กตรอนใหม่)
ฟังก์ชันที่พัฒนาขึ้นใหม่ที่ผสานรวมระบบควบคุมเลนส์และเทคโนโลยีอัตโนมัติ "Neo Engine" (New Electron Optical Engine) เป็นคุณสมบัติมาตรฐาน แม้ว่าสภาพแสงของอิเล็กตรอนจะเปลี่ยนไป แต่ก็ยังมีการเปลี่ยนแปลงเล็กน้อยในการจัดแนวลำแสง ช่วยให้ได้ภาพที่รวดเร็วและง่ายดายที่แรงดันไฟฟ้าเร่งและกระแสของโพรบ
ระบบนี้เป็นตัวอย่างชั้นนำของเทคโนโลยีอิเล็คตรอนออปติกขั้นสูงของ JEOL
①การปรับปรุงฟังก์ชันการทำงานอัตโนมัติ
ตัวอย่าง: ภาพตัดขวางของแร่ (ฝังเรซิน) โดย CP, Acc. โวล.: 5kV, ตัวตรวจจับ: RBED, กำลังขยาย: ×100,000
ฟังก์ชั่นอัตโนมัติให้การปรับโฟกัสอัตโนมัติในไม่กี่วินาที
②การปรับปรุงความแม่นยำในการขยาย
ตัวอย่าง: ตัวอย่างสำหรับมาตรวิทยา (MRS5), Acc. ปริมาตร: 10kV, กำลังขยาย: ×50,000
ความแม่นยำในการขยายได้รับการปรับปรุงอย่างมากและมีการวัดขนาดที่มีความแม่นยำสูง
③ปรับปรุงการใช้งานโหมดกรองพลังงาน
ตัวอย่าง: นามบัตร, บัญชี ปริมาตร: 15kV, ตัวตรวจจับ, UED, กำลังขยาย: ×3,500
แม้ว่าช่วงตัวกรองพลังงานจะเปลี่ยนไป แต่มุมมองและโฟกัสก็เปลี่ยนแปลงเพียงเล็กน้อย
GBSH-S (โหมด GENTLEBEAM™ Super High resolution Stage bias)
GBSH เป็นวิธีการที่ปรับปรุงความละเอียดเชิงพื้นที่ที่แรงดันไฟฟ้าเร่งใดๆ
แรงดันไบแอสสูงสุด 5kV จนถึงขั้นตัวอย่างมีให้โดย GBSH-S ที่พัฒนาขึ้นใหม่
GENTLEBEAM™ เป็นฟังก์ชันที่ลดความเร็วของลำแสงอิเล็กตรอนที่ส่องสว่างและเร่งสัญญาณอิเล็กตรอนโดยใช้แรงดันไบแอสสำหรับตัวอย่าง
เครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนแบบกระจัดกระจายใหม่
เครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนแบบกระเจิงกลับที่มีความไวสูงพิเศษที่พัฒนาขึ้นใหม่ช่วยให้เราได้ภาพที่มีความเปรียบต่างที่ชัดเจน ความไวของเครื่องตรวจจับได้รับการปรับปรุงอย่างมาก และสามารถสังเกตภาพคอนทราสต์ที่มีองค์ประกอบสูงได้ที่แรงดันไฟฟ้าเร่งต่ำ
ตัวอย่าง: ส่วนตัดขวาง Cu, อิเล็กตรอนในเหตุการณ์: 3kV, กำลังขยาย: ×10,000, WD: 4.5 มม.
แพลตฟอร์มใหม่
การออกแบบรูปลักษณ์ใหม่ใช้พื้นที่ขนาดเล็ก
ซึ่งให้ความยืดหยุ่นเพิ่มเติมสำหรับการติดตั้งเครื่องมือ
วิธีแลกเปลี่ยนตัวอย่างใหม่
ใช้ระบบแลกเปลี่ยนตัวอย่างที่ออกแบบใหม่ (ประเภทล็อคโหลด)
การใช้งานง่ายช่วยเพิ่มความสะดวกในการใช้งานและปรับปรุงปริมาณงานและความทนทานของเครื่องมือ
ระบบแลกเปลี่ยนตัวอย่างที่ให้ปริมาณงานสูงและเชื่อถือได้พร้อมให้บริการสำหรับผู้ใช้มือใหม่และผู้ใช้ที่มีประสบการณ์
สไมล์เลนาวี
SMILENAVI เป็นระบบนำทางการทำงานที่ออกแบบมาเพื่อช่วยเหลือผู้ใช้มือใหม่ในการเรียนรู้การทำงานพื้นฐานของเครื่องมืออย่างรวดเร็วและมีประสิทธิภาพ
เมื่อคลิกปุ่มที่แสดงใน SMILENAVI ปุ่มที่เกี่ยวข้องจะถูกเน้นเพื่อแสดงตำแหน่งของปุ่มอย่างชัดเจนสำหรับการดำเนินการครั้งต่อไป
①ปุ่มที่ไฮไลต์
เมื่อคุณวางตัวชี้เมาส์ไว้เหนือปุ่มบน SMILENAVI เฟรมจะแสดงขึ้นบนปุ่มที่เกี่ยวข้องบน PC-SEM
เมื่อคลิกปุ่มบน SMILENAVI หน้าจอจะเป็นสีเทา ยกเว้นปุ่มที่เกี่ยวข้องบน PC-SEM
②กำลังแสดงสถานที่
เมื่อมีการคลิกปุ่มของคีย์ฮาร์ดแวร์บน SMILENAVI รูปภาพของแผงการทำงานและคีย์ฮาร์ดแวร์จะแสดงขึ้น
③วีดีโอ
มีวิดีโออธิบายการดำเนินการ
สืบทอดประสิทธิภาพสูง
ปืนอิเล็กตรอน Schottky Plus ในเลนส์
In-Lens Schottky Plus Field Emission Electron Gun ใช้ความสว่างที่สูงขึ้นโดยการปรับปรุงการรวมกันของปืนอิเล็กตรอนและเลนส์คอนเดนเซอร์แก้ไขความคลาดเคลื่อนต่ำ
สิ่งนี้ทำให้ผู้ใช้สามารถรับกระแสโพรบ tp จาก pA สองสามถึงสองสามทศวรรษ nA แม้ที่แรงดันไฟเร่งต่ำ ระบบให้การสังเกตการณ์ที่มีความละเอียดสูง การทำแผนที่องค์ประกอบความเร็วสูง และการวิเคราะห์ EBSD แก่ผู้ใช้
ACL (เลนส์ควบคุมมุมรูรับแสง)
ACL ติดอยู่เหนือเลนส์ใกล้วัตถุและปรับมุมบรรจบกันของลำแสงอิเล็กตรอนในทุกช่วงของกระแสโพรบโดยอัตโนมัติ ดังนั้น เส้นผ่านศูนย์กลางของโพรบจะถูกย่อให้เล็กสุดเสมอ เนื่องจากมุมคอนเวอร์เจนซ์ของลำแสงอิเล็กตรอนที่ส่องสว่างจะถูกปรับโดยอัตโนมัติแม้ว่าปริมาณกระแสโพรบจะเปลี่ยนไป เป็นไปได้ที่จะรวบรวมทั้งภาพความละเอียดสูงและข้อมูลการวิเคราะห์ขนาดเล็กอย่างราบรื่น แม้ว่ากระแสของโพรบจะมีการเปลี่ยนแปลงอย่างกว้างขวาง
เลนส์ซุปเปอร์ไฮบริด
เลนส์ใกล้วัตถุประเภทเลนส์สนามไฟฟ้าสถิต/สนามแม่เหล็กที่พัฒนาขึ้นโดย JEOL "เลนส์ซุปเปอร์ไฮบริด" เป็นมาตรฐาน ทำให้เราสังเกตและวิเคราะห์ความละเอียดเชิงพื้นที่สูงเป็นพิเศษสำหรับตัวอย่างทุกประเภท รวมทั้งตัวอย่างที่เป็นแม่เหล็กและไม่เป็นสื่อนำไฟฟ้า
ระบบตรวจจับ
สามารถรับสัญญาณพร้อมกันของเครื่องตรวจจับได้สูงสุด 4 เครื่อง
เครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนตอนล่าง (LED) และเครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนตอนบน (UED) เป็นอุปกรณ์มาตรฐาน นอกจากนี้ยังมีเครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนแบบกระเจิงกลับที่หดกลับได้ (RBED) และเครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนทุติยภูมิ (USD) เป็นอุปกรณ์เสริม
การสังเกตความละเอียดเชิงพื้นที่สูง
GBSH (โหมดความละเอียดสูงพิเศษ GENTLEBEAM™) ให้ภาพที่มีความละเอียดเชิงพื้นที่สูงที่แรงดันไฟฟ้าเร่งต่ำเป็นพิเศษ
GENTLEBEAM™ เป็นฟังก์ชันที่ลดความเร็วของลำแสงอิเล็กตรอนที่ส่องสว่างและเร่งสัญญาณอิเล็กตรอนที่ปล่อยออกมาโดยใช้แรงดันไบแอสสำหรับตัวอย่าง
การสังเกตความละเอียดเชิงพื้นที่สูง
วัสดุนาโนออกไซด์
อนุภาคนาโนโลหะ
ฟังก์ชั่นสูญญากาศต่ำ
ฟังก์ชันสูญญากาศต่ำช่วยให้เราสามารถสังเกตและวิเคราะห์ตัวอย่างที่ไม่นำไฟฟ้าโดยไม่ต้องเคลือบสารนำไฟฟ้าได้ง่ายและมีความละเอียดเชิงพื้นที่สูง
การสังเกตด้วยกำลังขยายสูง
กระจก
การวิเคราะห์ EDS
อาหาร
ฟังก์ชันสูญญากาศต่ำช่วยลดการชาร์จของชิ้นงานที่เป็นฉนวนได้อย่างง่ายดาย
ดาวน์โหลดแคตตาล็อก
JSM-7900F กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดสนาม Schottky
การใช้งาน
แอปพลิเคชัน JSM-7900F
ในเรซิน CLEM พร้อมสารละลายกู้คืนเรืองแสง
ข้อมูลเพิ่มเติม
คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?
ไม่
โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป