ปิด Btn

เลือกไซต์ภูมิภาคของคุณ

ปิดหน้านี้

JSM-7600F กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดสนาม Schottky

ยกเลิก

JSM-7600F กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดสนาม Schottky

SEM กึ่งในเลนส์ที่มีความละเอียดสูง การนำระบบการฉายรังสีออปติกพลังงานสูงมาใช้ทำให้การวิเคราะห์องค์ประกอบมีความละเอียดสูง ความเร็วสูง และมีความแม่นยำสูง การรวมตัวของลำแสงอ่อนโยนช่วยให้สามารถถ่ายภาพพื้นผิวด้านบนของชิ้นงานที่พลังงานต่ำมากที่หลายร้อย eV

คุณสมบัติ

หน้านี้มีข้อผิดพลาดต่อไปนี้:ข้อผิดพลาดในบรรทัดที่ 1 ที่คอลัมน์ 5579: xmlParseCharRef: ค่า xmlChar ที่ไม่ถูกต้อง 8 ด้านล่างคือการแสดงหน้าจนถึงข้อผิดพลาดแรก

เลนส์กึ่งในให้การสังเกตและการวิเคราะห์ที่มีความละเอียดสูง

การสังเกตการณ์ที่มีความละเอียดสูงและการวิเคราะห์เชิงพื้นที่ที่มีความละเอียดสูงทำได้โดยการรวมกันของเลนส์ใกล้วัตถุชนิดกึ่งในเลนส์ที่สามารถปรับลำแสงอิเล็กตรอนให้ใกล้เคียงกันแม้ในแรงดันที่มีความเร่งต่ำ และแหล่งกำเนิดอิเล็กตรอน Schottky ในเลนส์ที่ให้กระแสไฟฟ้าที่เสถียรเหนือ a อายุการใช้งานยาวนาน

Gentle Beam (GB) ให้การถ่ายภาพพื้นผิวด้านบนด้วยอิเล็กตรอนที่ตกกระทบพลังงานต่ำเป็นพิเศษ

มี Gentle Beam (โหมด GB) ที่มีความละเอียดดีกว่าโหมดปกติ ในโหมด GB แรงดันไบแอสจะถูกจ่ายให้กับชิ้นงานในขณะที่ลำแสงอิเล็กตรอนถูกปล่อยออกมา ทำให้สามารถถ่ายภาพพื้นผิวด้านบนด้วยอิเล็กตรอนที่ตกกระทบเพียงไม่กี่ร้อย eV ทำให้ได้ภาพที่มีความละเอียดสูงของตัวอย่างที่ยากต่อการสังเกตจนถึงปัจจุบัน .

High Power Optics ให้การวิเคราะห์ที่รวดเร็วและแม่นยำสูง

High Power Optics ถูกนำมาใช้สำหรับระบบออปติคัล ซึ่งไม่เพียงให้ภาพที่มีความละเอียดสูงเท่านั้น แต่ยังให้การวิเคราะห์ที่รวดเร็วและแม่นยำสูงอย่างเสถียร รวมถึงการวิเคราะห์องค์ประกอบต่างๆ

ตัวอย่างการใช้งาน

Applicaton1 การสังเกตความละเอียดสูงด้วยเลนส์ใกล้วัตถุกึ่งเลนส์

ข้อบ่งชี้จำเพาะ

มติ SEI 1.0nm (15kV), 1.5nm (1kV)
การอวดอ้าง เพื่อ 25 1,000,000
(บนภาพขนาด 120mm 90mm)
แรงดันไฟฟ้าเร่ง 0.1kV ถึง 30kV
โพรบปัจจุบัน 1pA ถึง 200nA
เลนส์ควบคุมมุมรูรับแสง Built-in
เครื่องตรวจจับ เครื่องตรวจจับบน, เครื่องตรวจจับด้านล่าง
ตัวกรองพลังงาน ตัวกรอง r ใหม่
บีมอ่อนโยน Built-in
ภาพดิจิทัล 1,280 x 960 พิกเซล, 2,560 x 1,920 พิกเซล, 5,120 x 3,840 พิกเซล
ห้องล็อคอากาศของชิ้นงานทดสอบ กลไกการแลกเปลี่ยนชิ้นงานแบบ one-action ในตัว
ขั้นตอนตัวอย่าง ระบบควบคุมมอเตอร์แบบยูเซนตริก 5 แกน
ประเภท IA II III
XY 70mm × 50mm 110mm × 80mm 140mm × 80mm
เอียง -5 ° ถึง ~+70° -5 ° ถึง +70° -5 ° ถึง +70°
การหมุน ° 360 ° 360 ° 360
WD 1.5mm จะ 25mm 1.5mm จะ 25mm 1.5mm จะ 25mm
ระบบอพยพ สอง SIP, TMP, RP
การออกแบบที่เป็นมิตรกับสิ่งแวดล้อม ระหว่างการทำงานปกติ : 1.2kVA
ระหว่างโหมดสลีป : 1kVA
ระหว่างที่ระบบอพยพปิด : 0.76kVA

CO2 การส่งออก

CO2/ชั่วโมง CO2/ปี
ระหว่างการใช้งานปกติ 0.481กิโลกรัม 4,214กิโลกรัม
ในระหว่างโหมดสลีป 0.411กิโลกรัม -
ระหว่างที่ระบบอพยพปิดอยู่
(เปิดปั๊มไอออน)
0.286กิโลกรัม -

ตัวเลือกหลัก

เครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนแบบกระจายกลับแบบดึงกลับได้ (RBEI)*1 เครื่องตรวจจับ BE มุมต่ำ (LABE)*2
เอ็กซ์เรย์สเปกโตรมิเตอร์แบบกระจายความยาวคลื่น (WDS)
เอ็กซ์เรย์สเปกโตรมิเตอร์แบบกระจายพลังงาน (EDS)
ระบบการเลี้ยวเบนแบบกระจายกลับของอิเล็กตรอน (EBSD)
การสแกนเครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (STEM)
เครื่องตรวจจับคาโทโดลูมิเนสเซนซ์ (CLD)
กับดักไนโตรเจนเหลว (LNT)

  • สำหรับการวิเคราะห์ EDS

  • สำหรับการสังเกตด้วยกำลังขยายสูง

การใช้งาน

แอปพลิเคชัน JSM-7600F

รูปภาพ

ข้อมูลเพิ่มเติม

พื้นฐานวิทยาศาสตร์

คำอธิบายง่ายๆ เกี่ยวกับกลไกและ
การใช้งานผลิตภัณฑ์ JEOL

ปิดหน้านี้
แจ้งให้ทราบ

คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?

ไม่

โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป

ติดต่อ

เจอีโอแอล ให้บริการสนับสนุนที่หลากหลายเพื่อให้แน่ใจว่าลูกค้าของเราสามารถใช้ผลิตภัณฑ์ของเราได้อย่างสบายใจ
โปรดติดต่อเรา