คุณสมบัติ
MultiBeam ซึ่งเป็น SEM ประสิทธิภาพสูงแบบใหม่และการกัดแบบไมโคร FIB รวมคอลัมน์อิเล็กตรอน LaB6 ที่ได้รับความนิยมมากที่สุดในโลกเข้ากับความสามารถในการกัดแบบเรียลไทม์และการตรวจสอบ JIB-4500 MultiBeam ให้ปริมาณงานสูงและผลผลิตที่เพิ่มขึ้นด้วยฟังก์ชั่นการดู การวิเคราะห์ และการกัดขนาดเล็กพร้อมกันสำหรับการใช้งานที่หลากหลาย
ความเก่งกาจ
การทำงานแบบสุญญากาศต่ำสำหรับการถ่ายภาพชิ้นงานที่ไม่นำไฟฟ้าโดยไม่ต้องเคลือบหรือดัดแปลง
ระบบฉีดแก๊สสำหรับการกัดและการทับถม
เวทีขนาดใหญ่สำหรับตัวอย่างสูงสุด 76 มม. Φ
การออกแบบพอร์ตที่หลากหลายสำหรับทุกความต้องการในการวิเคราะห์ของคุณ
การผลิต
การแบ่งส่วนและการสุ่มตัวอย่างแบบอนุกรม (S3) สำหรับการตรวจสอบ การแบ่งส่วน การประดิษฐ์ และสร้างภาพ 3 มิติใหม่
กระแสกัดสูงสุดสำหรับปริมาณงานสูง
ระบบล็อคอากาศมาตรฐานเพื่อการโหลดตัวอย่างที่รวดเร็ว
Stability
ให้ภาพที่เสถียรสำหรับการกัด / การตรวจสอบเป็นระยะเวลานาน
การกัดปริมาณงานสูงในพื้นที่ขนาดใหญ่ (กระแสการกัดสูงสุด 30 nA)
สเตจโกนิโอมิเตอร์แบบยูเซ็นตริก 5 แกน
ข้อมูลเพิ่มเติม
คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?
ไม่
โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป