มิกซ์ครอสโคปี™
เชื่อมโยงแสงและการสแกน
ระบบกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน

ตัวจับยึดชิ้นงานทดสอบเดียวกันนี้ใช้ได้กับทั้งกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัลและกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ด้วยเหตุนี้ ด้วยการจัดการข้อมูลบนเวทีด้วยซอฟต์แวร์เฉพาะ จึงเป็นไปได้ที่ระบบจะบันทึกตำแหน่งที่สังเกตได้ด้วยกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัล แล้วขยายพื้นที่เดียวกันเพิ่มเติมด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดเพื่อสังเกตโครงสร้างที่ละเอียดด้วยกำลังขยายที่สูงขึ้น & ความละเอียดสูงขึ้น เป้าหมายการสังเกตที่พบด้วยกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัลสามารถสังเกตได้อย่างลงตัวด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดโดยไม่ต้องค้นหาเป้าหมายอีกครั้ง ขณะนี้คุณสามารถเปรียบเทียบและตรวจสอบภาพกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัลและภาพกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดได้อย่างราบรื่นและง่ายดาย

คุณสมบัติ

โครงร่างระบบ

รุ่นที่ใช้งานได้:
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกนการปล่อยภาคสนาม
อิเล็กตรอนโพรบไมโครอนาไลเซอร์ (EPMA)

การเก็บข้อมูลและการสังเกตโดยสัญชาตญาณด้วยการใช้สี

โดยการเพิ่มข้อมูลสีของแสงที่มองเห็นได้จากภาพกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัล (ซึ่งไม่สามารถรับได้ด้วยภาพ SEM) จะทำให้ภาพ SEM มีเอฟเฟ็กต์ภาพที่เป็นธรรมชาติมากขึ้น

การค้นหาเป้าหมายที่ราบรื่นใช้ประโยชน์จากคุณสมบัติของกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัล

การสังเกตด้วยกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัลทำให้สามารถค้นหาโครงสร้างเป้าหมายได้ง่าย ซึ่งยากต่อการแยกแยะโดยใช้ภาพ SEM

ป้องกันความเสียหายต่อชิ้นงานทดสอบจากลำแสงอิเล็กตรอน

เพื่อป้องกันความเสียหายหรือการปนเปื้อนจากลำอิเล็กตรอน การค้นหาพื้นที่ที่น่าสนใจจะดำเนินการในขั้นแรกโดยใช้กล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัล ทำให้สามารถสังเกต SEM ได้โดยมีปริมาณรังสีน้อยที่สุดไปยังจุดสังเกต

รุ่นใช้งานได้: เจเอ็กซ์เอ-8230, เจเอ็กซ์เอ-8530เอฟ, เจเอ็กซ์เอ-8530เอฟพลัส

"miXcroscopy™ for EPMA" -การลงทะเบียนตำแหน่งการวิเคราะห์อย่างรวดเร็ว -

miXcroscopy™ สำหรับ EPMA จะกำหนดตำแหน่งการวิเคราะห์อย่างรวดเร็วสำหรับชิ้นงานทดสอบที่แยกองค์ประกอบออกจากภาพอิเล็กตรอนที่กระเจิงกลับได้ยาก โดยการติดตั้งกล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสงโพลาไรซ์

ตัวอย่าง: แร่ส่วนบาง

ภาพ OM แสงโพลาไรซ์: Mag. x50

ภาพอิเล็กตรอนกระจัดกระจาย: Mag. x50

"miXcroscopy™ for EPMA" - วิเคราะห์ตำแหน่งที่ลงทะเบียน OM ได้อย่างแม่นยำและรวดเร็ว-

การไหลแบบธรรมดา

ตัวอย่าง: แร่ส่วนบาง

ขั้นตอนใหม่โดยใช้ miXcroscopy™ สำหรับ EPMA

miXcroscopy™ สำหรับ EPMA ช่วยให้สามารถแยกงาน OM และ EPMA ได้อย่างมีประสิทธิภาพ OM ค้นหาพื้นที่การวิเคราะห์และลงทะเบียนจุดวิเคราะห์ EPMA ดำเนินการวิเคราะห์องค์ประกอบ การปรับปรุงครั้งใหญ่นี้ช่วยเพิ่มเวลาในการวิเคราะห์ EPMA ได้อย่างมาก

การใช้งาน

แอปพลิเคชัน miXcroscopy_EPMA

เคล็มโน้ต

สินค้าที่เกี่ยวข้อง

JXA-8530FPlus Field Emission Electron Probe เครื่องวิเคราะห์ไมโคร

JEOL ได้จำหน่าย FE-EPMA เครื่องแรกของโลก นั่นคือ JXA-8500F ในปี 2003 FE-EPMA ที่ได้รับการยกย่องนี้มีการใช้กันอย่างแพร่หลายในด้านต่างๆ เช่น โลหะ วัสดุ และธรณีวิทยาทั้งในอุตสาหกรรมและวิชาการ JXA-8530FPlus เป็น FE-EPMA รุ่นที่สามที่มาพร้อมกับความสามารถในการวิเคราะห์และภาพที่ได้รับการปรับปรุง ปืนอิเล็กตรอนแบบปล่อยสนามในเลนส์ Schottky รวมกับซอฟต์แวร์ใหม่ให้ปริมาณงานที่สูงขึ้นในขณะที่ยังคงความเสถียรสูง ดังนั้นจึงช่วยให้สามารถใช้งาน EPMA ได้หลากหลายขึ้นด้วยความละเอียดสูงกว่า

รุ่นใหม่ JXA-iHP200F

JXA-8230 เครื่องวิเคราะห์ไมโครโพรบอิเล็กตรอน

การทำงานบนพีซีที่เป็นมิตรกับผู้ใช้

สามารถติดตั้ง EDS ซึ่งเป็นเครื่องตรวจจับเอ็กซ์เรย์อเนกประสงค์และใช้งานง่าย ระบบ WDS และ EDS ที่ผสมผสานกันทำให้เกิดสภาพแวดล้อมที่ราบรื่นและเป็นมิตรกับผู้ใช้สำหรับการวิเคราะห์

รุ่นใหม่ JXA-iSP100

ข้อมูลเพิ่มเติม