【เลิกผลิตแล้ว】เครื่องวิเคราะห์ไมโครโพรบอิเล็กตรอนปล่อยภาคสนาม JXA-8530FPlus
ยกเลิก

สินค้านี้ไม่มีจำหน่ายอีกต่อไปแล้ว
หากคุณต้องการทราบข้อมูลล่าสุดเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์ที่คุณต้องการหรือต้องการทราบข้อมูลเพิ่มเติมเกี่ยวกับทางเลือกอื่นๆ โปรดคลิกที่ลิงก์ด้านล่าง เราหวังว่าคุณจะใช้ผลิตภัณฑ์ของเราต่อไป
JEOL ได้จำหน่าย FE-EPMA เครื่องแรกของโลก นั่นคือ JXA-8500F ในปี 2003 FE-EPMA ที่ได้รับการยกย่องนี้มีการใช้กันอย่างแพร่หลายในด้านต่างๆ เช่น โลหะ วัสดุ และธรณีวิทยาทั้งในอุตสาหกรรมและวิชาการ JXA-8530FPlus เป็น FE-EPMA รุ่นที่สามที่มาพร้อมกับความสามารถในการวิเคราะห์และภาพที่ได้รับการปรับปรุง ปืนอิเล็กตรอนแบบปล่อยสนามในเลนส์ Schottky รวมกับซอฟต์แวร์ใหม่ให้ปริมาณงานที่สูงขึ้นในขณะที่ยังคงความเสถียรสูง ดังนั้นจึงช่วยให้สามารถใช้งาน EPMA ได้หลากหลายขึ้นด้วยความละเอียดสูงกว่า
คุณสมบัติ
รุ่น In-Lens Schottky Plus FEG EPMA
รุ่น In-Lens Schottky Plus FEG EPMA ที่มีความหนาแน่นกระแสเชิงมุมที่ปรับให้เหมาะสม ช่วยให้สามารถวิเคราะห์ด้วยกระแสโพรบขนาดใหญ่ 2μA หรือมากกว่า ความละเอียดของภาพอิเล็กตรอนทุติยภูมิได้รับการปรับปรุงให้ดีขึ้นแม้ในสภาวะการวิเคราะห์โดยการปรับมุมคอนเวอร์เจนซ์ที่ถูกต้องโดยอัตโนมัติ
ซอฟต์แวร์ขั้นสูง
มีระบบแอปพลิเคชันขั้นสูงที่ใช้ Microsoft Windows® มากมาย ซึ่งรวมถึง:
โปรแกรมวิเคราะห์ธาตุติดตามสำหรับการวิเคราะห์องค์ประกอบการติดตามที่ง่ายขึ้นและเหมาะสมยิ่งขึ้น รวมถึงการเพิ่มข้อมูลที่รวบรวมจากสเปกโตรมิเตอร์สูงสุด 5 เครื่อง
Phase Map Maker สำหรับการสร้างเฟสแมปโดยอัตโนมัติตามส่วนประกอบหลัก
โปรแกรมวิเคราะห์พื้นผิวไม่เรียบสำหรับการวิเคราะห์ WDS อัตโนมัติของชิ้นงานทดสอบที่มีพื้นผิวไม่เรียบ สิ่งนี้เป็นไปได้เนื่องจากระยะ Z ขนาดใหญ่ของแท่น (7.5 มม.)
ประกาศ: Windows เป็นเครื่องหมายการค้าจดทะเบียนของ Microsoft Corporation ในสหรัฐอเมริกาและประเทศอื่นๆ
การกำหนดค่า WDS ที่ยืดหยุ่น
สามารถเลือกเครื่องเอ็กซ์เรย์สเปกโตรมิเตอร์ (WDS) ได้หลายแบบ: รัศมีวงกลม Rowland 140 มม. (140R) หรือ 100 มม. (100R) คริสตัล 2 แบบหรือคริสตัล 4 แบบ และคริสตัลขนาดมาตรฐานหรือขนาดใหญ่ผสมกัน
XCE (2 xtl) X-ray Spectrometer, FCS (4 xtl) X-ray Spectrometer และ X-ray Spectrometer L (ขนาดใหญ่ 2 xtl) สำหรับ 140R มีช่วงสเปกตรัมกว้างและให้ความละเอียดความยาวคลื่นที่เหนือกว่าและยอดถึงพื้นหลัง อัตราส่วน สเปกโตรมิเตอร์เอ็กซ์เรย์ชนิด H ของ 100R ให้ความเข้มของเอ็กซ์เรย์สูง ผู้ใช้สามารถเลือกจากสเปกโตรมิเตอร์เหล่านี้ได้ขึ้นอยู่กับความต้องการ
ระบบ WDS/EDS แบบผสมผสาน
JXA-8530FPlus มาพร้อมกับ 30mm . ของ JEOL2 เครื่องตรวจจับซิลิคอนดริฟท์ (SDD)
SDD ที่มีอัตราการนับสูงพร้อมด้วยรูรับแสงแบบปรับได้ในแหล่งกำเนิดช่วยให้สามารถวิเคราะห์ EDS ที่สภาวะ WDS ได้ สามารถรับสเปกตรัม EDS แผนที่ และเส้นได้พร้อมกันกับข้อมูล WDS

ห้องเอนกประสงค์
JXA-8530FPlus มาพร้อมกับห้องตัวอย่างและห้องแลกเปลี่ยนชิ้นงานทดสอบที่ขยายได้สูง ช่วยให้คุณสามารถรวมอุปกรณ์เสริมต่างๆ เข้ากับห้องเพาะเลี้ยงได้
เหล่านี้รวมถึง:
ระบบการเลี้ยวเบนกลับของอิเล็กตรอน (EBSD)
เวทีย่อยหมุนเอียง
เครื่องตรวจจับ Cathodoluminescence
สเปกโตรมิเตอร์เอ็กซ์เรย์แบบอ่อน
เรือขนส่งแบบแยกอากาศ
แหล่งไอออนอัตราการกัดเซาะสูง น้ำยาทำความสะอาดในแหล่งกำเนิด ฯลฯ

ระบบดูดฝุ่นที่ทรงพลัง
JXA-8530FPlus ใช้ระบบสุญญากาศที่ทรงพลังและสะอาด ซึ่งรวมถึงปั๊มโมเลกุลเทอร์โบที่ลอยด้วยแม่เหล็กสองตัว นอกจากนี้ยังมีห้องกลางแบบสองขั้นตอนสำหรับคอลัมน์ออปติคัลอิเล็กตรอน ดังนั้นจึงรักษาสูญญากาศสูงในห้องปืนอิเล็กตรอนโดยการสูบน้ำแบบดิฟเฟอเรนเชียล
การเพิ่มปั๊มสโครลเสริมและนิ้วเย็นไนโตรเจนเหลวทำให้เกิดระบบสุญญากาศไร้น้ำมันขั้นสุดยอด
สเปกโตรมิเตอร์เอ็กซ์เรย์แบบอ่อน (SXES)
สเปกโตรมิเตอร์เอ็กซ์เรย์แบบอ่อน (SXES)
Soft X-ray Emission Spectrometer ที่มีความละเอียดพลังงานสูงเป็นพิเศษ ได้รับการพัฒนาร่วมกันโดย Institute of Multidisciplinary Research for Advanced Materials, Tohoku University (Prof. M. Terauchi) และ JEOL Ltd. เป็นต้น
Variable-line-spacing (VLS) ตะแกรงช่วยให้สามารถตรวจจับได้พร้อมกัน (เหมือนกับ EDS) และช่วยให้สามารถตรวจจับสเปกตรัม Li-K และ BK ด้วย CCD ที่มีความไวสูงได้ สเปกโตรมิเตอร์นี้ให้ความละเอียดพลังงานสูงอย่างยอดเยี่ยม ทำให้สามารถวิเคราะห์สถานะพันธะเคมีโดยละเอียดได้

miXcroscopy (กล้องจุลทรรศน์แบบสหสัมพันธ์)
miXcroscopy Linked Optical & Scanning Electron Microscopy System
พื้นที่ที่น่าสนใจพร้อมกับพิกัดระยะ XY ที่อยู่ในกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัลสามารถบันทึกและโอนไปยัง EPMA เพื่อการนำทางไปยังตำแหน่งที่ต้องการสำหรับการถ่ายภาพและการวิเคราะห์

ข้อบ่งชี้จำเพาะ
ช่วงการวิเคราะห์ธาตุ | WDS: (เป็น) B ถึง U, EDS: B ถึง U |
---|---|
ช่วงเอ็กซ์เรย์สเปกโตรเมทรี | ช่วงสเปกตรัมของ WDS: 0.087 ถึง 9.3 nm
ช่วงพลังงาน EDS: 20 keV |
จำนวนเครื่องเอ็กซ์เรย์สเปกโตรมิเตอร์ | WDS: เลือกได้ 1 ถึง 5, EDS: 1 |
ขนาดตัวอย่างสูงสุด | 100 มม. × 100 มม. × 50 มม. (ส) |
แรงดันไฟฟ้าเร่ง | 1 ถึง 30 kV (ขั้นละ 0.1 kV) |
โพรบความเสถียรในปัจจุบัน | ± 0.3%/ชม |
ความละเอียดภาพอิเล็กตรอนรอง | 3 นาโนเมตรที่ WD 11 มม., 30 kV |
20 นาโนเมตรที่ 10 kV, 10 nA, WD 11 mm
50 นาโนเมตรที่ 10 kV, 100 nA, WD 11 mm |
|
การอวดอ้าง | x40 ถึง x300,000 (WD 11 มม.) |
การสแกนความละเอียดพิกเซลของภาพ | สูงสุด 5,120 x 3,840 |
ดาวน์โหลดแคตตาล็อก
JXA-8530FPlus Field Emission Electron Probe เครื่องวิเคราะห์ไมโคร
การใช้งาน
แอปพลิเคชัน JXA-8530FPlus
ข้อมูลเพิ่มเติม


คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?
ไม่
โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป