ปิด Btn

เลือกไซต์ภูมิภาคของคุณ

ปิดหน้านี้

JEOL ได้จำหน่าย FE-EPMA เครื่องแรกของโลก นั่นคือ JXA-8500F ในปี 2003 FE-EPMA ที่ได้รับการยกย่องนี้มีการใช้กันอย่างแพร่หลายในด้านต่างๆ เช่น โลหะ วัสดุ และธรณีวิทยาทั้งในอุตสาหกรรมและวิชาการ JXA-8530FPlus เป็น FE-EPMA รุ่นที่สามที่มาพร้อมกับความสามารถในการวิเคราะห์และภาพที่ได้รับการปรับปรุง ปืนอิเล็กตรอนแบบปล่อยสนามในเลนส์ Schottky รวมกับซอฟต์แวร์ใหม่ให้ปริมาณงานที่สูงขึ้นในขณะที่ยังคงความเสถียรสูง ดังนั้นจึงช่วยให้สามารถใช้งาน EPMA ได้หลากหลายขึ้นด้วยความละเอียดสูงกว่า

คุณสมบัติ

รุ่น In-Lens Schottky Plus FEG EPMA

รุ่น In-Lens Schottky Plus FEG EPMA ที่มีความหนาแน่นกระแสเชิงมุมที่ปรับให้เหมาะสม ช่วยให้สามารถวิเคราะห์ด้วยกระแสโพรบขนาดใหญ่ 2μA หรือมากกว่า ความละเอียดของภาพอิเล็กตรอนทุติยภูมิได้รับการปรับปรุงให้ดีขึ้นแม้ในสภาวะการวิเคราะห์โดยการปรับมุมคอนเวอร์เจนซ์ที่ถูกต้องโดยอัตโนมัติ

ซอฟต์แวร์ขั้นสูง

มีระบบแอปพลิเคชันขั้นสูงที่ใช้ Microsoft Windows® มากมาย ซึ่งรวมถึง:

  • โปรแกรมวิเคราะห์ธาตุติดตามสำหรับการวิเคราะห์องค์ประกอบการติดตามที่ง่ายขึ้นและเหมาะสมยิ่งขึ้น รวมถึงการเพิ่มข้อมูลที่รวบรวมจากสเปกโตรมิเตอร์สูงสุด 5 เครื่อง

  • Phase Map Maker สำหรับการสร้างเฟสแมปโดยอัตโนมัติตามส่วนประกอบหลัก

  • โปรแกรมวิเคราะห์พื้นผิวไม่เรียบสำหรับการวิเคราะห์ WDS อัตโนมัติของชิ้นงานทดสอบที่มีพื้นผิวไม่เรียบ สิ่งนี้เป็นไปได้เนื่องจากระยะ Z ขนาดใหญ่ของแท่น (7.5 มม.)

ประกาศ: Windows เป็นเครื่องหมายการค้าจดทะเบียนของ Microsoft Corporation ในสหรัฐอเมริกาและประเทศอื่นๆ

การกำหนดค่า WDS ที่ยืดหยุ่น

สามารถเลือกเครื่องเอ็กซ์เรย์สเปกโตรมิเตอร์ (WDS) ได้หลายแบบ: รัศมีวงกลม Rowland 140 มม. (140R) หรือ 100 มม. (100R) คริสตัล 2 แบบหรือคริสตัล 4 แบบ และคริสตัลขนาดมาตรฐานหรือขนาดใหญ่ผสมกัน
XCE (2 xtl) X-ray Spectrometer, FCS (4 xtl) X-ray Spectrometer และ X-ray Spectrometer L (ขนาดใหญ่ 2 xtl) สำหรับ 140R มีช่วงสเปกตรัมกว้างและให้ความละเอียดความยาวคลื่นที่เหนือกว่าและยอดถึงพื้นหลัง อัตราส่วน สเปกโตรมิเตอร์เอ็กซ์เรย์ชนิด H ของ 100R ให้ความเข้มของเอ็กซ์เรย์สูง ผู้ใช้สามารถเลือกจากสเปกโตรมิเตอร์เหล่านี้ได้ขึ้นอยู่กับความต้องการ

ระบบ WDS/EDS แบบผสมผสาน

JXA-8530FPlus มาพร้อมกับ 30mm . ของ JEOL2 เครื่องตรวจจับซิลิคอนดริฟท์ (SDD)
SDD ที่มีอัตราการนับสูงพร้อมด้วยรูรับแสงแบบปรับได้ในแหล่งกำเนิดช่วยให้สามารถวิเคราะห์ EDS ที่สภาวะ WDS ได้ สามารถรับสเปกตรัม EDS แผนที่ และเส้นได้พร้อมกันกับข้อมูล WDS

ห้องเอนกประสงค์

JXA-8530FPlus มาพร้อมกับห้องตัวอย่างและห้องแลกเปลี่ยนชิ้นงานทดสอบที่ขยายได้สูง ช่วยให้คุณสามารถรวมอุปกรณ์เสริมต่างๆ เข้ากับห้องเพาะเลี้ยงได้

เหล่านี้รวมถึง:

  • ระบบการเลี้ยวเบนกลับของอิเล็กตรอน (EBSD)

  • เวทีย่อยหมุนเอียง

  • เครื่องตรวจจับ Cathodoluminescence

  • สเปกโตรมิเตอร์เอ็กซ์เรย์แบบอ่อน

  • เรือขนส่งแบบแยกอากาศ

  • แหล่งไอออนอัตราการกัดเซาะสูง น้ำยาทำความสะอาดในแหล่งกำเนิด ฯลฯ

ระบบดูดฝุ่นที่ทรงพลัง

JXA-8530FPlus ใช้ระบบสุญญากาศที่ทรงพลังและสะอาด ซึ่งรวมถึงปั๊มโมเลกุลเทอร์โบที่ลอยด้วยแม่เหล็กสองตัว นอกจากนี้ยังมีห้องกลางแบบสองขั้นตอนสำหรับคอลัมน์ออปติคัลอิเล็กตรอน ดังนั้นจึงรักษาสูญญากาศสูงในห้องปืนอิเล็กตรอนโดยการสูบน้ำแบบดิฟเฟอเรนเชียล
การเพิ่มปั๊มสโครลเสริมและนิ้วเย็นไนโตรเจนเหลวทำให้เกิดระบบสุญญากาศไร้น้ำมันขั้นสุดยอด

สเปกโตรมิเตอร์เอ็กซ์เรย์แบบอ่อน (SXES)

Soft X-ray Emission Spectrometer ที่มีความละเอียดพลังงานสูงเป็นพิเศษ ได้รับการพัฒนาร่วมกันโดย Institute of Multidisciplinary Research for Advanced Materials, Tohoku University (Prof. M. Terauchi) และ JEOL Ltd. เป็นต้น
Variable-line-spacing (VLS) ตะแกรงช่วยให้สามารถตรวจจับได้พร้อมกัน (เหมือนกับ EDS) และช่วยให้สามารถตรวจจับสเปกตรัม Li-K และ BK ด้วย CCD ที่มีความไวสูงได้ สเปกโตรมิเตอร์นี้ให้ความละเอียดพลังงานสูงอย่างยอดเยี่ยม ทำให้สามารถวิเคราะห์สถานะพันธะเคมีโดยละเอียดได้

miXcroscopy (กล้องจุลทรรศน์แบบสหสัมพันธ์)

พื้นที่ที่น่าสนใจพร้อมกับพิกัดระยะ XY ที่อยู่ในกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัลสามารถบันทึกและโอนไปยัง EPMA เพื่อการนำทางไปยังตำแหน่งที่ต้องการสำหรับการถ่ายภาพและการวิเคราะห์ 

ข้อบ่งชี้จำเพาะ

ช่วงการวิเคราะห์ธาตุ WDS: (เป็น) B ถึง U, EDS: B ถึง U
ช่วงเอ็กซ์เรย์สเปกโตรเมทรี ช่วงสเปกตรัมของ WDS: 0.087 ถึง 9.3 nm
ช่วงพลังงาน EDS: 20 keV
จำนวนเครื่องเอ็กซ์เรย์สเปกโตรมิเตอร์ WDS: เลือกได้ 1 ถึง 5, EDS: 1
ขนาดตัวอย่างสูงสุด 100 มม. × 100 มม. × 50 มม. (ส)
แรงดันไฟฟ้าเร่ง 1 ถึง 30 kV (ขั้นละ 0.1 kV)
โพรบความเสถียรในปัจจุบัน ± 0.3%/ชม
ความละเอียดภาพอิเล็กตรอนรอง 3 นาโนเมตรที่ WD 11 มม., 30 kV
20 นาโนเมตรที่ 10 kV, 10 nA, WD 11 mm
50 นาโนเมตรที่ 10 kV, 100 nA, WD 11 mm
การอวดอ้าง x40 ถึง x300,000 (WD 11 มม.)
การสแกนความละเอียดพิกเซลของภาพ สูงสุด 5,120 x 3,840

ดาวน์โหลดแคตตาล็อก

การใช้งาน

แอปพลิเคชัน JXA-8530FPlus

ข้อมูลเพิ่มเติม

พื้นฐานวิทยาศาสตร์

คำอธิบายง่ายๆ เกี่ยวกับกลไกและ
การใช้งานผลิตภัณฑ์ JEOL

ปิดหน้านี้
แจ้งให้ทราบ

คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?

ไม่

โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป

ติดต่อ

เจอีโอแอล ให้บริการสนับสนุนที่หลากหลายเพื่อให้แน่ใจว่าลูกค้าของเราสามารถใช้ผลิตภัณฑ์ของเราได้อย่างสบายใจ
โปรดติดต่อเรา