ปิด Btn

เลือกไซต์ภูมิภาคของคุณ

ปิดหน้านี้

JXA-8530F เครื่องวิเคราะห์อนุภาคอิเล็กตรอนแบบ Field Emission Microanalyzer

ยกเลิก

JXA-8530F เครื่องวิเคราะห์อนุภาคอิเล็กตรอนแบบ Field Emission Microanalyzer

JEOL ปฏิวัติการวิเคราะห์พื้นผิวด้วย EPMA ที่มีปืนอิเล็กตรอนแบบปล่อยสนาม (FE) และตอนนี้ภูมิใจนำเสนอ FE-EPMA ที่อัปเกรดใหม่ JXA-8530F ทำงานบน PC Windows สำหรับการเก็บข้อมูลและการวิเคราะห์ในขณะที่ยังคงรักษาฮาร์ดแวร์อันทรงพลังของ JXA-8500F รวมถึงปืนอิเล็กตรอน FE, EOS และระบบสุญญากาศเพื่อให้ได้การวิเคราะห์พื้นที่ขนาดเล็กมาก การทำงานบนพีซีที่เป็นมิตรกับผู้ใช้ช่วยให้วิเคราะห์ได้อย่างรวดเร็วและง่ายดายด้วยกำลังขยายสูงสุด

คุณสมบัติ

ระบบรวม WD/ED ที่ควบคุมด้วยพีซีเปิดประตูสู่การวิเคราะห์ Ultra Micro ใหม่

คอมพิวเตอร์ควบคุม

EPMA การเริ่มต้นอย่างรวดเร็ว
สูตรของผู้ใช้
'การวิเคราะห์จุดคลิก'
การแสดงภาพเอ็กซ์เรย์แบบผสม (WDS) แบบเรียลไทม์
การถ่ายภาพสเปกตรัม EDS
คริสตัลวิเคราะห์ใหม่สำหรับองค์ประกอบที่เบาเป็นพิเศษ

ประกาศ: Windows เป็นเครื่องหมายการค้าจดทะเบียนของ Microsoft Corporation ในสหรัฐอเมริกาและประเทศอื่นๆ

ความละเอียดเชิงพื้นที่สูงในการทำแผนที่เอ็กซ์เรย์ด้วยปืนอิเล็กตรอน FE

ปืนอิเล็กตรอน FE ผลิตโพรบที่มีขนาดเพียง 1/2 ถึง 1/10 ของขนาดที่ผลิตในปืนอิเล็กตรอนปล่อยความร้อนใน EPMA ทั่วไป โดยใช้ไส้หลอด W หรือ LaB6tip

ปืนอิเล็กตรอน FE สามารถผลิตโพรบขนาดเล็กที่แรงดันไฟฟ้าเร่งต่ำได้ แม้จะมีกระแสไฟโพรบสูง (10 ถึง 100 nA) ทำให้สามารถวิเคราะห์ WDS ด้วยความละเอียดรังสีเอกซ์สูงได้

"การวิเคราะห์จุดคลิก" สูตรของผู้ใช้

"การวิเคราะห์จุดคลิก" ให้ผู้ใช้ได้รับการวิเคราะห์สเปกตรัม WDS เชิงคุณภาพและการวิเคราะห์กึ่งเชิงปริมาณเพียงแค่คลิกจุดบนอิเล็กตรอนทุติยภูมิหรือภาพอิเล็กตรอนที่กระเจิงกลับ สูตรของผู้ใช้ช่วยให้เข้าถึงเงื่อนไขการวิเคราะห์ที่ตั้งไว้ล่วงหน้าได้ง่าย คุณลักษณะเหล่านี้ได้รับการออกแบบมาเพื่อเพิ่มประสิทธิภาพของ FE-EPMA ด้วยการทำงานที่ง่ายที่สุด

ปฏิบัติการขั้นสูง

ผู้ใช้สามารถออกแบบขั้นตอนการวิเคราะห์โดยละเอียดที่ปรับให้เหมาะกับวัตถุประสงค์การวิจัยของตน เช่น การวิเคราะห์องค์ประกอบเชิงปริมาณที่ซับซ้อนของพื้นที่ขนาดนาโน การผนวกรวมเข้ากับระบบยังเป็นชุดแอปพลิเคชันที่สมบูรณ์และชุดซอฟต์แวร์ที่ใช้งานง่าย ซึ่งจัดเตรียมวิธีและเครื่องมือในการวิเคราะห์ข้อมูลอย่างครอบคลุม ตัวอย่างเช่น มีการติดตาม Probe Tracking ทำให้ง่ายต่อการดำเนินการในพื้นที่ที่มีระยะเวลานานและวิเคราะห์เฉพาะจุดบนคุณสมบัติที่มีขนาดเล็กมากโดยไม่ต้องกังวลเรื่องการเบี่ยงเบนของลำแสง

ระบบ WD/ED แบบผสมผสาน

JXA-8530F มีระบบ WD/ED ที่ใช้งานง่ายผสมผสานกับ WDS และ EDSdetectors ขั้นสูงของ JEOL การรวม WDS สำหรับการวิเคราะห์องค์ประกอบการติดตามและ EDS ที่ได้รับการพิสูจน์แล้วของ JEOL ทำให้ JXA-8530F เป็นเครื่องมือที่มีประสิทธิภาพสำหรับการเก็บข้อมูลการวิเคราะห์เชิงปริมาณอย่างมีประสิทธิภาพ การทำแผนที่การสแกนด้วยลำแสงกำลังขยายสูง และการทำแผนที่การสแกนพื้นที่ขนาดใหญ่

ข้อบ่งชี้จำเพาะ

ช่วงองค์ประกอบที่ตรวจจับได้ WDS: (เบ) / B~U,EDS: B~U
ช่วงเอ็กซ์เรย์ที่ตรวจพบได้ ช่วงความยาวคลื่นที่ตรวจจับได้ด้วย WDS : 0.087 ถึง 9.3nm
ช่วงพลังงานที่ตรวจจับได้ด้วย EDS : 20keV
จำนวนสเปกโตรมิเตอร์ WDS: เลือกได้สูงสุด 5 รายการ, EDS: 1
ขนาดตัวอย่างสูงสุด 100 มม. × 100 มม. × 50 มม. (ส)
แรงดันไฟฟ้าเร่ง 1 ถึง 30 kV (0.1 kV ขั้น)
โพรบช่วงปัจจุบัน 10-12 ถึง 5×10-7 A
โพรบความเสถียรในปัจจุบัน ± 0.3 % /ชม
ความละเอียดภาพอิเล็กตรอนรอง 3 นาโนเมตร (WD 11 มม., 30 kV)
ขนาดโพรบขั้นต่ำ 40 นาโนเมตร (10 kV, 1×10-8 A)
100 นาโนเมตร (10 kV, 1×10-7 A)
กำลังสแกนกำลังขยาย × 40 ถึง × 300,000 (WD 11 มม.)
การสแกนความละเอียดของภาพ สูงสุด 5,120 × 3,840
หน้าจอสี สำหรับการวิเคราะห์ EPMA : LCD 1,280×1,024
สำหรับการทำงาน SEM และการวิเคราะห์ EDS : LCD 1,280×1,024
  • พร้อมคริสตัลวิเคราะห์เสริมสำหรับ Be analysis

การใช้งาน

แอปพลิเคชัน JXA-8530F

ข้อมูลเพิ่มเติม

พื้นฐานวิทยาศาสตร์

คำอธิบายง่ายๆ เกี่ยวกับกลไกและ
การใช้งานผลิตภัณฑ์ JEOL

ปิดหน้านี้
แจ้งให้ทราบ

คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?

ไม่

โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป

ติดต่อ

เจอีโอแอล ให้บริการสนับสนุนที่หลากหลายเพื่อให้แน่ใจว่าลูกค้าของเราสามารถใช้ผลิตภัณฑ์ของเราได้อย่างสบายใจ
โปรดติดต่อเรา