JXA-8530F เครื่องวิเคราะห์อนุภาคอิเล็กตรอนแบบ Field Emission Microanalyzer
ยกเลิก
JEOL ปฏิวัติการวิเคราะห์พื้นผิวด้วย EPMA ที่มีปืนอิเล็กตรอนแบบปล่อยสนาม (FE) และตอนนี้ภูมิใจนำเสนอ FE-EPMA ที่อัปเกรดใหม่ JXA-8530F ทำงานบน PC Windows สำหรับการเก็บข้อมูลและการวิเคราะห์ในขณะที่ยังคงรักษาฮาร์ดแวร์อันทรงพลังของ JXA-8500F รวมถึงปืนอิเล็กตรอน FE, EOS และระบบสุญญากาศเพื่อให้ได้การวิเคราะห์พื้นที่ขนาดเล็กมาก การทำงานบนพีซีที่เป็นมิตรกับผู้ใช้ช่วยให้วิเคราะห์ได้อย่างรวดเร็วและง่ายดายด้วยกำลังขยายสูงสุด
คุณสมบัติ
ระบบรวม WD/ED ที่ควบคุมด้วยพีซีเปิดประตูสู่การวิเคราะห์ Ultra Micro ใหม่
คอมพิวเตอร์ควบคุม
EPMA การเริ่มต้นอย่างรวดเร็ว
สูตรของผู้ใช้
'การวิเคราะห์จุดคลิก'
การแสดงภาพเอ็กซ์เรย์แบบผสม (WDS) แบบเรียลไทม์
การถ่ายภาพสเปกตรัม EDS
คริสตัลวิเคราะห์ใหม่สำหรับองค์ประกอบที่เบาเป็นพิเศษ
ประกาศ: Windows เป็นเครื่องหมายการค้าจดทะเบียนของ Microsoft Corporation ในสหรัฐอเมริกาและประเทศอื่นๆ
ความละเอียดเชิงพื้นที่สูงในการทำแผนที่เอ็กซ์เรย์ด้วยปืนอิเล็กตรอน FE
ปืนอิเล็กตรอน FE ผลิตโพรบที่มีขนาดเพียง 1/2 ถึง 1/10 ของขนาดที่ผลิตในปืนอิเล็กตรอนปล่อยความร้อนใน EPMA ทั่วไป โดยใช้ไส้หลอด W หรือ LaB6tip
ปืนอิเล็กตรอน FE สามารถผลิตโพรบขนาดเล็กที่แรงดันไฟฟ้าเร่งต่ำได้ แม้จะมีกระแสไฟโพรบสูง (10 ถึง 100 nA) ทำให้สามารถวิเคราะห์ WDS ด้วยความละเอียดรังสีเอกซ์สูงได้
"การวิเคราะห์จุดคลิก" สูตรของผู้ใช้
"การวิเคราะห์จุดคลิก" ให้ผู้ใช้ได้รับการวิเคราะห์สเปกตรัม WDS เชิงคุณภาพและการวิเคราะห์กึ่งเชิงปริมาณเพียงแค่คลิกจุดบนอิเล็กตรอนทุติยภูมิหรือภาพอิเล็กตรอนที่กระเจิงกลับ สูตรของผู้ใช้ช่วยให้เข้าถึงเงื่อนไขการวิเคราะห์ที่ตั้งไว้ล่วงหน้าได้ง่าย คุณลักษณะเหล่านี้ได้รับการออกแบบมาเพื่อเพิ่มประสิทธิภาพของ FE-EPMA ด้วยการทำงานที่ง่ายที่สุด
ปฏิบัติการขั้นสูง
ผู้ใช้สามารถออกแบบขั้นตอนการวิเคราะห์โดยละเอียดที่ปรับให้เหมาะกับวัตถุประสงค์การวิจัยของตน เช่น การวิเคราะห์องค์ประกอบเชิงปริมาณที่ซับซ้อนของพื้นที่ขนาดนาโน การผนวกรวมเข้ากับระบบยังเป็นชุดแอปพลิเคชันที่สมบูรณ์และชุดซอฟต์แวร์ที่ใช้งานง่าย ซึ่งจัดเตรียมวิธีและเครื่องมือในการวิเคราะห์ข้อมูลอย่างครอบคลุม ตัวอย่างเช่น มีการติดตาม Probe Tracking ทำให้ง่ายต่อการดำเนินการในพื้นที่ที่มีระยะเวลานานและวิเคราะห์เฉพาะจุดบนคุณสมบัติที่มีขนาดเล็กมากโดยไม่ต้องกังวลเรื่องการเบี่ยงเบนของลำแสง
ระบบ WD/ED แบบผสมผสาน
JXA-8530F มีระบบ WD/ED ที่ใช้งานง่ายผสมผสานกับ WDS และ EDSdetectors ขั้นสูงของ JEOL การรวม WDS สำหรับการวิเคราะห์องค์ประกอบการติดตามและ EDS ที่ได้รับการพิสูจน์แล้วของ JEOL ทำให้ JXA-8530F เป็นเครื่องมือที่มีประสิทธิภาพสำหรับการเก็บข้อมูลการวิเคราะห์เชิงปริมาณอย่างมีประสิทธิภาพ การทำแผนที่การสแกนด้วยลำแสงกำลังขยายสูง และการทำแผนที่การสแกนพื้นที่ขนาดใหญ่
ข้อบ่งชี้จำเพาะ
| ช่วงองค์ประกอบที่ตรวจจับได้ | WDS： (เบ※) / B～U,EDS: B～U |
|---|---|
| ช่วงเอ็กซ์เรย์ที่ตรวจพบได้ | ช่วงความยาวคลื่นที่ตรวจจับได้ด้วย WDS : 0.087 ถึง 9.3nm ช่วงพลังงานที่ตรวจจับได้ด้วย EDS : 20keV |
| จำนวนสเปกโตรมิเตอร์ | WDS: เลือกได้สูงสุด 5 รายการ, EDS: 1 |
| ขนาดตัวอย่างสูงสุด | 100 มม. × 100 มม. × 50 มม. (ส) |
| แรงดันไฟฟ้าเร่ง | 1 ถึง 30 kV (0.1 kV ขั้น) |
| โพรบช่วงปัจจุบัน | 10-12 ถึง 5×10-7 A |
| โพรบความเสถียรในปัจจุบัน | ± 0.3 % /ชม |
| ความละเอียดภาพอิเล็กตรอนรอง | 3 นาโนเมตร (WD 11 มม., 30 kV) |
| ขนาดโพรบขั้นต่ำ | 40 นาโนเมตร (10 kV, 1×10-8 A) 100 นาโนเมตร (10 kV, 1×10-7 A) |
| กำลังสแกนกำลังขยาย | × 40 ถึง × 300,000 (WD 11 มม.) |
| การสแกนความละเอียดของภาพ | สูงสุด 5,120 × 3,840 |
| หน้าจอสี | สำหรับการวิเคราะห์ EPMA : LCD 1,280×1,024 สำหรับการทำงาน SEM และการวิเคราะห์ EDS : LCD 1,280×1,024 |
พร้อมคริสตัลวิเคราะห์เสริมสำหรับ Be analysis
การใช้งาน
แอปพลิเคชัน JXA-8530F
การวิเคราะห์รอยแตกในชิ้นส่วนท่อทองเหลือง
การวิเคราะห์พื้นที่ขนาดเล็กด้วย JXA-8530F (FE-EPMA)
ข้อมูลเพิ่มเติม
คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?
ไม่
โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป