ปิด Btn

เลือกไซต์ภูมิภาคของคุณ

ปิดหน้านี้

การเปิดตัวกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดภาคสนามชอตต์กี้รุ่นใหม่ JSM-IT800 −FE-SEM พร้อมแพลตฟอร์มเทคโนโลยีอัจฉริยะ (IT)−

วันวางจำหน่าย: 2020/05/25

JEOL Ltd. (ประธานและประธานเจ้าหน้าที่ฝ่ายปฏิบัติการ Izumi Oi) ประกาศเปิดตัวกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดสนาม Schottky รุ่นใหม่ JSM-IT800 ซึ่งจะวางจำหน่ายในเดือนพฤษภาคม 2020

ประวัติการพัฒนาผลิตภัณฑ์

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEMs) ใช้ในหลากหลายสาขา เช่น นาโนเทคโนโลยี โลหะ สารกึ่งตัวนำ เซรามิก การแพทย์ และชีววิทยา เนื่องจากแอปพลิเคชัน SEM ขยายตัวไม่เพียงแค่ครอบคลุมการวิจัยและพัฒนาเท่านั้น แต่ยังรวมถึงการควบคุมคุณภาพและการตรวจสอบผลิตภัณฑ์ที่ไซต์การผลิตด้วย ผู้ใช้ SEM จึงต้องการข้อมูลคุณภาพสูงที่รวดเร็ว รวมถึงการยืนยันข้อมูลองค์ประกอบที่เรียบง่ายพร้อมการดำเนินการวิเคราะห์ที่ราบรื่น

เพื่อตอบสนองความต้องการเหล่านี้ JSM-IT800 ที่มีแพลตฟอร์มเทคโนโลยีอัจฉริยะ (IT) ได้รวมเอาปืนปล่อยอิเล็กตรอนสนาม Schottky Plus ในเลนส์ของเราสำหรับการถ่ายภาพความละเอียดสูงไปจนถึงการทำแผนที่องค์ประกอบอย่างรวดเร็ว และระบบควบคุมแสงอิเล็กตรอนที่เป็นนวัตกรรมใหม่ "Neo Engine" เช่นเดียวกับ "SEM Center" แบบ GUI ที่ไร้รอยต่อสำหรับการรวมเครื่องสเปกโตรมิเตอร์รังสีเอกซ์แบบกระจายพลังงาน JEOL (EDS) อย่างเต็มรูปแบบ นอกจากนี้ JSM-IT800 ยังช่วยให้สามารถกำหนดค่าเลนส์ใกล้วัตถุได้สองประเภท โดยนำเสนอรุ่นต่างๆ เพื่อตอบสนองความต้องการของผู้ใช้ที่หลากหลาย

JSM-IT800 ทั้งสองรุ่นประกอบด้วยรุ่นเลนส์ไฮบริด (HL) สำหรับ SEM วัตถุประสงค์ทั่วไป และรุ่นเลนส์ซูเปอร์ไฮบริด (SHL) สำหรับการสังเกตความละเอียดสูงที่ได้รับการปรับปรุงและการวิเคราะห์ต่างๆ นอกจากนี้ JSM-IT800 ของรุ่น SHL ยังมาพร้อมกับ Upper Hybrid Detector (UHD) ใหม่เพื่อให้ได้ภาพอัตราส่วนสัญญาณต่อสัญญาณรบกวนที่สูงขึ้นสำหรับการศึกษาโครงสร้างที่ดีของชิ้นงานทดสอบ

นอกจากนี้ JSM-IT800 ยังสามารถติดตั้งเครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนแบบกระจายแสงสะท้อนกลับชนิดเรืองแสงวาบใหม่ (SBED) และเครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนแบบกระจายกลับแบบกระจายแสงอเนกประสงค์ (VBED) SBED ช่วยให้ได้ภาพที่มีการตอบสนองสูงและสร้างคอนทราสต์ของวัสดุที่คมชัดแม้ในแรงดันไฟฟ้าที่เร่งต่ำ VBED สามารถรับภาพ 3 มิติ ภูมิประเทศ และวัสดุที่มีความคมชัด

คุณสมบัติหลัก

  • ปืนอิเล็กตรอนแบบปล่อยสนามไฟฟ้า Schottky Plus ในเลนส์
    การผสานรวมที่ดีขึ้นของปืนอิเล็กตรอนและเลนส์คอนเดนเซอร์ที่มีความคลาดเคลื่อนต่ำทำให้ได้ความสว่างที่สูงขึ้น มีกระแสโพรบเพียงพอที่แรงดันเร่งต่ำ (100 nA ที่ 5 kV) ระบบ Schottky Plus ในเลนส์ที่เป็นเอกลักษณ์ช่วยให้สามารถใช้งานได้หลากหลาย ตั้งแต่การถ่ายภาพความละเอียดสูงไปจนถึงการทำแผนที่องค์ประกอบอย่างรวดเร็ว การวิเคราะห์การเลี้ยวเบนของอิเล็กตรอนแบบสะท้อนกลับ (EBSD) และสเปกโทรสโกปีการปล่อยรังสีเอกซ์แบบอ่อน (SXES) โดยไม่จำเป็นต้องเปลี่ยนเงื่อนไขของเลนส์ .
  • Neo Engine (เอ็นจิ้นออปติคัลอิเล็กตรอนใหม่)
    Neo Engine เป็นระบบออปติคอลอิเล็กตรอนที่ล้ำสมัยซึ่งสะสมเทคโนโลยีหลักของ JEOL มานานหลายปี ผู้ใช้สามารถทำการสังเกตที่เสถียรได้แม้ในขณะที่เปลี่ยนเงื่อนไขการสังเกตหรือการวิเคราะห์ที่แตกต่างกัน ความสามารถในการทำงานสูงสำหรับฟังก์ชันอัตโนมัติได้รับการปรับปรุงอย่างมาก
  • การบูรณาการ SEM Center / EDS
    GUI "SEM Center" ผสานรวมกับ SEM imaging และการวิเคราะห์ EDS อย่างสมบูรณ์เพื่อให้การดำเนินงานราบรื่นและใช้งานง่าย JSM-IT800 สามารถปรับปรุงได้โดยการรวมส่วนเสริมซอฟต์แวร์เสริม เช่น SMILENAVI เพื่อช่วยเหลือและจัดเตรียมเส้นทางการเรียนรู้สำหรับผู้ใช้มือใหม่ และตัวกรอง LIVE-AI (Live Image Visual Enhancer – AI) เพื่อให้ได้ภาพสดคุณภาพสูงขึ้น .
  • เวอร์ชันเลนส์ไฮบริด (HL) และเวอร์ชันเลนส์ซูเปอร์ไฮบริด (SHL)
    จากการผสมผสานระหว่างเลนส์สนามไฟฟ้าสถิตและสนามแม่เหล็กไฟฟ้า ทำให้มีรุ่นเลนส์ใกล้วัตถุสองประเภทให้เลือก การกำหนดค่าที่แตกต่างกันทำให้สามารถตอบสนองความต้องการที่หลากหลายของผู้ใช้ได้มากขึ้น ทำให้ได้ภาพที่มีความละเอียดเชิงพื้นที่สูงและวิเคราะห์ตัวอย่างได้หลากหลาย ตั้งแต่วัสดุแม่เหล็กไปจนถึงฉนวน ในขณะที่ยังคงคุณสมบัติเดิมของ JSM-IT800
  • เครื่องตรวจจับไฮบริดตอนบน (UHD)
    UHD ซึ่งติดตั้งอยู่ในเลนส์ใกล้วัตถุสำหรับรุ่น SHL ช่วยเพิ่มประสิทธิภาพการตรวจจับอิเล็กตรอนที่เกิดจากชิ้นงานทดสอบได้อย่างมาก สิ่งนี้นำไปสู่การได้มาซึ่งภาพที่มีอัตราส่วนสัญญาณต่อสัญญาณรบกวนที่สูงขึ้น
  • ใหม่ เครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนแบบกระเจิงกลับ
    เครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนแบบกระจายรังสีชนิดสะท้อนกลับ (SBED, อุปกรณ์เสริม) มีการตอบสนองสูงและเหมาะสมในการรับภาพที่มีคอนทราสต์ของวัสดุด้วยแรงดันไฟฟ้าที่มีอัตราเร่งต่ำ เครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนแบบกระจายกลับแบบอเนกประสงค์ (VBED, อุปกรณ์เสริม) พร้อมการออกแบบองค์ประกอบเครื่องตรวจจับแบบแบ่งส่วน ช่วยให้ผู้ใช้สามารถเลือกกำหนดค่าแต่ละส่วนหรือใช้การตั้งค่าเครื่องตรวจจับที่ตั้งโปรแกรมไว้ล่วงหน้าเพื่อรับภาพเพื่อให้ข้อมูลสามมิติ ภูมิประเทศ หรือองค์ประกอบ

ข้อมูลจำเพาะที่หน้าหลัก

รุ่น JSM-IT800 SHL รุ่น JSM-IT800 HL
ความละเอียด (1 กิโลโวลต์) นาโนเมตร 0.7 นาโนเมตร 1.3
ความละเอียด (15 กิโลโวลต์) นาโนเมตร 0.5 -
ความละเอียด (20 กิโลโวลต์) - นาโนเมตร 0.9
แรงดันไฟฟ้าเร่ง 0.01 ถึง 30 kV
เครื่องตรวจจับมาตรฐาน เครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนทุติยภูมิ (SED)
เครื่องตรวจจับไฮบริดตอนบน (UHD) ตัวตรวจจับอิเล็กตรอนส่วนบน (UED)
ปืนอิเล็กตรอน ปืนอิเล็กตรอนแบบปล่อยสนามไฟฟ้า Schottky Plus ในเลนส์
โพรบปัจจุบัน ไม่กี่ pA ถึง 500 nA (30 kV) ไม่กี่ pA ถึง 300 nA (30 kV)
ไม่กี่ pA ถึง 100 nA (5 kV)
เลนส์ใกล้วัตถุ เลนส์ซูเปอร์ไฮบริด (SHL) เลนส์ไฮบริด (HL)
ขั้นตอนตัวอย่าง ระยะโกนิโอมิเตอร์แบบยูเซนตริกแบบเต็ม
การเคลื่อนไหวของตัวอย่าง X: 70 มม. Y: 50 มม. Z: 1 ถึง 41 มม
เอียง: –5 ถึง 70° การหมุน: 360°
เครื่องตรวจจับ EDS ความละเอียดพลังงาน: 133 eV หรือดีกว่า
องค์ประกอบที่ตรวจจับได้: B ถึง U
พื้นที่ตรวจจับ: 60 มม2
JSM-IT800

เป้าหมายการขายต่อหน่วยประจำปี

1) รุ่น JSM-IT800 SHL: 90 เครื่อง/ปี
2) รุ่น JSM-IT800 HL: 50 เครื่อง/ปี
ปิดหน้านี้
แจ้งให้ทราบ

คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?

ไม่

โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป