ลดอุปสรรคในการเข้าถึง EBSD: การวัดที่เชื่อถือได้ด้วย W-SEM

วันวางจำหน่าย: 2026/03/05

การสัมมนาออนไลน์นี้จะแนะนำขั้นตอนการทำงาน EBSD ที่ใช้งานได้จริงโดยใช้ W-SEM โดยสาธิตวิธีการได้แผนที่ EBSD ที่น่าเชื่อถือด้วย JSM-IT210 และตัวตรวจจับ e-Flash XS ขนาดกะทัดรัด เราจะเน้นการเตรียมตัวอย่างที่มีประสิทธิภาพด้วย Cross Section Polisher™ (CP) และนำเสนอตัวอย่าง EBSD ที่สำคัญในโลหะ เซรามิก และวัสดุอิเล็กทรอนิกส์

การสัมมนานี้จะจัดขึ้นทางออนไลน์ในรูปแบบออนดีมานด์ โดยมีระยะเวลาจำกัด ท่านสามารถรับชมเนื้อหาได้ทุกที่ทุกเวลาในช่วงเวลาที่กำหนด

เมื่อเข้าร่วมการสัมมนาผ่านเว็บนี้ คุณจะได้เรียนรู้...

• การวิเคราะห์ทิศทางการเรียงตัวของผลึกโดยใช้ W-SEM

• ตัวอย่างการใช้งานจริงของการวัด EBSD

• วิธีการเตรียมตัวอย่างสำหรับการวิเคราะห์ด้วย EBSD

ใครควรเข้าร่วม?

• ผู้ใช้งานที่เพิ่งเริ่มใช้ EBSD และต้องการเริ่มต้นใช้งาน

• ผู้ใช้งานทำการวัด EBSD ในระดับไมครอน

• สำหรับผู้ที่กำลังมองหาโซลูชัน SEM-EBSD ราคาประหยัด

สินค้าที่เกี่ยวข้อง

JSM-IT210 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด

พรีเซนเตอร์	มายุ อิชิโนะ ฝ่ายรับสมัคร EP หน่วยธุรกิจ EP การดำเนินธุรกิจ SI บริษัท จอล จำกัด คาซึกิ วาตานาเบะ ฝ่ายรับสมัคร EP หน่วยธุรกิจ EP การดำเนินธุรกิจ SI บริษัท จอล จำกัด
ช่วงเวลาการรับชมตามต้องการ	วันพุธที่ 20 พฤษภาคม ถึง วันศุกร์ที่ 22 พฤษภาคม 2026 โปรดทราบว่าวันที่ระบุอ้างอิงตามเวลามาตรฐานญี่ปุ่น (JST) โปรดตรวจสอบเขตเวลาท้องถิ่นของคุณเมื่อเข้าถึงเนื้อหา
ค่าธรรมเนียม	ฟรี
เอกสารประกอบการนำเสนอ	คุณสามารถดาวน์โหลดเอกสารเหล่านี้ได้หลังจากกรอกแบบสำรวจหลังการนำเสนอเสร็จสิ้นแล้ว
การบันทึก	การบันทึกการสัมมนาผ่านเว็บจะถูกโพสต์บน “คลังเก็บวิดีโอสัมมนาออนไลน์” หน้าในภายหลัง เราจะแจ้งให้คุณทราบผ่าน e-newsletter และสื่อสังคมออนไลน์เมื่อพร้อมใช้งาน
เซสชันถาม & ตอบ	จะไม่มีช่วงถาม-ตอบหลังการนำเสนอ
ช่องทางการติดต่อ	อีเมล：sales1[at]jeol.co.jp ฝ่ายสร้างอุปสงค์ บริษัท JEOL จำกัด โปรดใช้ @ สำหรับ [at]

ลงทะเบียน

กรุณาลงทะเบียนที่นี่

• สำหรับผู้ที่ลงทะเบียนแล้ว เราจะส่งข้อมูลเกี่ยวกับวิธีเข้าถึงหน้ารับชมวิดีโอให้ประมาณสามวันก่อนวันเริ่มงานที่กำหนดไว้ โปรดอดทนรอจนถึงวันนั้นด้วย

• โปรดทราบว่าเราอาจไม่สามารถรับการลงทะเบียนจากบริษัทอื่นในอุตสาหกรรมเดียวกันได้