แนวทางในการได้มาซึ่งสเปกตรัม SXE ที่ถูกต้องโดยใช้เครื่องสเปกโทรเมตรการปล่อยรังสีเอ็กซ์อ่อนของ JEOL

วันวางจำหน่าย: 2026/01/30

สเปกตรัมการปล่อยรังสีในช่วงไมครอนย่อยของวัสดุที่ได้จากเครื่องวิเคราะห์สเปกตรัมการปล่อยรังสีเอกซ์แบบอ่อน (SXES) สะท้อนถึงสถานะพันธะทางเคมีของวัสดุนั้น และรูปร่างของสเปกตรัมจะเปลี่ยนแปลงไปเล็กน้อย เพื่อให้ได้ข้อมูลนี้อย่างถูกต้อง จำเป็นต้องมีการเตรียมตัวอย่างและการตั้งค่าเงื่อนไขการวิเคราะห์ที่เหมาะสม การสัมมนาออนไลน์นี้จะเน้นไปที่ข้อผิดพลาดทั่วไปที่ผู้ปฏิบัติงานที่ไม่คุ้นเคยกับการวิเคราะห์ SXES มักทำ และนำเสนอแนวทางแก้ไขปัญหาเหล่านั้น

การสัมมนานี้จะจัดขึ้นทางออนไลน์ในรูปแบบออนดีมานด์ โดยมีระยะเวลาจำกัด ท่านสามารถรับชมเนื้อหาได้ทุกที่ทุกเวลาในช่วงเวลาที่กำหนด

เมื่อเข้าร่วมการสัมมนาผ่านเว็บนี้ คุณจะได้เรียนรู้...

• หลักการและคุณลักษณะของ SXES

• การวิเคราะห์สถานะพันธะเคมีโดยใช้ SXES

• การเตรียมตัวอย่างและการจัดวางตัวอย่างเป็นสิ่งจำเป็นสำหรับการวิเคราะห์ SXES

ใครควรเข้าร่วม?

• ผู้ใช้ SXES

• ผู้ใช้ EPMA

• ผู้ใช้ FE-SEM

สินค้าที่เกี่ยวข้อง

สเปกโตรมิเตอร์เอ็กซ์เรย์แบบอ่อน (SXES)

พรีเซนเตอร์	มาซารุ ทาคาคุระ ฝ่ายวิจัยและพัฒนา SA หน่วยธุรกิจ SA การดำเนินธุรกิจ SI บริษัท จอล จำกัด
ช่วงเวลาการรับชมตามต้องการ	วันพุธที่ 25 มีนาคม ถึง วันศุกร์ที่ 27 มีนาคม พ.ศ. 2026 โปรดทราบว่าวันที่ระบุอ้างอิงตามเวลามาตรฐานญี่ปุ่น (JST) โปรดตรวจสอบเขตเวลาท้องถิ่นของคุณเมื่อเข้าถึงเนื้อหา
ค่าธรรมเนียม	ฟรี
เอกสารประกอบการนำเสนอ	คุณสามารถดาวน์โหลดเอกสารเหล่านี้ได้หลังจากทำแบบสำรวจหลังการนำเสนอเสร็จเรียบร้อยแล้ว
การบันทึก	การบันทึกการสัมมนาผ่านเว็บจะถูกโพสต์บน “คลังเก็บวิดีโอสัมมนาออนไลน์” หน้าในภายหลัง เราจะแจ้งให้คุณทราบผ่าน e-newsletter และสื่อสังคมออนไลน์เมื่อพร้อมใช้งาน
เซสชันถาม & ตอบ	จะไม่มีช่วงถาม-ตอบหลังการนำเสนอ
ช่องทางการติดต่อ	อีเมล：sales1[at]jeol.co.jp ฝ่ายสร้างอุปสงค์ บริษัท จอล จำกัด โปรดใช้ @ สำหรับ [at]

ลงทะเบียน

กรุณาลงทะเบียนที่นี่

• สำหรับผู้ที่ลงทะเบียนแล้ว เราจะส่งข้อมูลเกี่ยวกับวิธีเข้าถึงหน้ารับชมวิดีโอให้ประมาณสามวันก่อนวันเริ่มงานที่กำหนดไว้ โปรดอดทนรอจนถึงวันนั้นด้วย

• โปรดทราบว่าเราอาจไม่สามารถรับการลงทะเบียนจากบริษัทอื่นในอุตสาหกรรมเดียวกันได้