ปิด Btn

เลือกไซต์ภูมิภาคของคุณ

ปิดหน้านี้

กรณีศึกษาการวิเคราะห์เซมิคอนดักเตอร์โดยใช้ AES

วันวางจำหน่าย: 2025/10/27

รายงานฉบับนี้นำเสนอกรณีศึกษาการวิเคราะห์สารกึ่งตัวนำโดยใช้ Auger Electron Spectroscopy (AES) ซึ่งเป็นเทคนิคการวิเคราะห์ที่มีความไวต่อพื้นผิวสูงและมีประสิทธิภาพสูง ช่วยให้สามารถจำแนกองค์ประกอบและการปนเปื้อนของธาตุได้อย่างแม่นยำในระดับนาโนเมตร ในช่วงไม่กี่ปีที่ผ่านมา การพัฒนา Spectrum Imaging ได้เพิ่มขีดความสามารถของ AES มากขึ้น ทำให้สามารถวิเคราะห์คุณสมบัติทางอิเล็กทรอนิกส์ เช่น แบนด์แก๊ปและความต่างศักย์ในตัวได้อย่างละเอียดและสะดวกยิ่งขึ้น ความก้าวหน้าเหล่านี้ทำให้ AES กลายเป็นเครื่องมือที่มีคุณค่ามากขึ้นในการวิจัยและการผลิตสารกึ่งตัวนำ ซึ่งมีส่วนช่วยในการพัฒนาการวิเคราะห์ความล้มเหลว การประเมินฟิล์มบาง และการปรับปรุงกระบวนการให้เหมาะสมที่สุด

งานสัมมนานี้จะจัดขึ้นบนเว็บ คุณสามารถเข้าร่วมได้ไม่เพียงแค่จากพีซีของคุณ แต่ยังสามารถเข้าร่วมจากสมาร์ทโฟนหรือแท็บเล็ตของคุณ ตราบใดที่คุณสามารถเข้าถึงเว็บได้ เราหวังว่าจะมีส่วนร่วมของคุณ

เมื่อเข้าร่วมการสัมมนาผ่านเว็บนี้ คุณจะได้เรียนรู้...

  • วิธีการวัดล่าสุดของ AES

  • ข้อมูลการใช้งานล่าสุดของ AES

  • ซอฟต์แวร์ล่าสุดที่ใช้งานง่าย

ใครควรเข้าร่วม?

  • ผู้ใช้ AES

  • ลูกค้าที่สนใจในการวิเคราะห์สถานะไฟฟ้า

  • ลูกค้าที่มีส่วนร่วมในการวิเคราะห์ความล้มเหลวของเซมิคอนดักเตอร์

สินค้าที่เกี่ยวข้อง / การใช้งาน

JAMP-9510F สว่านเจาะกระแทกภาคสนาม Microprobe

สารกึ่งตัวนำ (วิเคราะห์ตามอุตสาหกรรม)

พรีเซนเตอร์

โคโนมิ อิคิตะ

ฝ่ายวิจัยและพัฒนา สพฐ.
หน่วยธุรกิจ SA
การดำเนินธุรกิจ SI
บริษัท จอล จำกัด

วันที่/งวด

26 ธันวาคม 2025 (ศุกร์) 16:00 ถึง 17:00 JST (โตเกียว)

ค่าธรรมเนียม

ฟรี (รับสมัครตามลำดับการมาก่อนได้ก่อน กรุณาสมัครโดยเร็วที่สุด)

เอกสารประกอบการนำเสนอ

คุณสามารถดาวน์โหลดเอกสารเหล่านี้ได้หลังจากทำแบบสำรวจหลังการนำเสนอเสร็จเรียบร้อยแล้ว

การบันทึก

การบันทึกการสัมมนาผ่านเว็บจะถูกโพสต์บน “ภาพยนต์จาก Webinars ของ JEOL ในอดีต” หน้าในภายหลัง
เราจะแจ้งให้คุณทราบผ่าน e-newsletter และโซเชียลมีเดียเมื่อมีการโพสต์การบันทึก

เซสชันถาม & ตอบ

จะไม่มีช่วงถาม-ตอบหลังการนำเสนอ

ช่องทางการติดต่อ

อีเมล:sales1[at]jeol.co.jp
ฝ่ายสร้างอุปสงค์
บริษัท จอล จำกัด

  • โปรดใช้ @ สำหรับ [at]

ลงทะเบียน

กรุณาลงทะเบียนที่นี่

  • สำหรับรายละเอียดเกี่ยวกับการลงทะเบียนและการเข้าร่วมโปรดดูที่ PDF

  • เว็บสัมมนาครั้งนี้จะจัดขึ้นผ่าน Zoom ซึ่งมีฟีเจอร์การประชุมทดสอบ ดังนั้น หากคุณเป็นผู้ใช้ใหม่ของ Zoom โปรดคลิก "ทดสอบ Zoom" เพื่อทดลองใช้งาน

  • โปรดทราบว่าเราอาจไม่สามารถรับการลงทะเบียนจากบริษัทอื่นในอุตสาหกรรมเดียวกันได้

 

ปิดหน้านี้
แจ้งให้ทราบ

คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?

ไม่

โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป