การประยุกต์ใช้กับวัสดุเซมิคอนดักเตอร์ด้วยภาพสเปกตรัม AES ที่พัฒนาขึ้นใหม่
วันวางจำหน่าย: 2025/10/27
รายงานฉบับนี้นำเสนอกรณีศึกษาการวิเคราะห์สารกึ่งตัวนำโดยใช้ Auger Electron Spectroscopy (AES) ซึ่งเป็นเทคนิคการวิเคราะห์ที่มีความไวต่อพื้นผิวสูงและมีประสิทธิภาพสูง ช่วยให้สามารถจำแนกองค์ประกอบและการปนเปื้อนของธาตุได้อย่างแม่นยำในระดับนาโนเมตร ในช่วงไม่กี่ปีที่ผ่านมา การพัฒนา Spectrum Imaging ได้เพิ่มขีดความสามารถของ AES มากขึ้น ทำให้สามารถวิเคราะห์คุณสมบัติทางอิเล็กทรอนิกส์ เช่น แบนด์แก๊ปและความต่างศักย์ในตัวได้อย่างละเอียดและสะดวกยิ่งขึ้น ความก้าวหน้าเหล่านี้ทำให้ AES กลายเป็นเครื่องมือที่มีคุณค่ามากขึ้นในการวิจัยและการผลิตสารกึ่งตัวนำ ซึ่งมีส่วนช่วยในการพัฒนาการวิเคราะห์ความล้มเหลว การประเมินฟิล์มบาง และการปรับปรุงกระบวนการให้เหมาะสมที่สุด
การสัมมนานี้จะจัดขึ้นทางออนไลน์ในรูปแบบออนดีมานด์ โดยมีระยะเวลาจำกัด ท่านสามารถรับชมเนื้อหาได้ทุกที่ทุกเวลาในช่วงเวลาที่กำหนด
เมื่อเข้าร่วมการสัมมนาผ่านเว็บนี้ คุณจะได้เรียนรู้...
วิธีการวัดล่าสุดของ AES
ข้อมูลการใช้งานล่าสุดของ AES
ซอฟต์แวร์ล่าสุดที่ใช้งานง่าย
ใครควรเข้าร่วม?
ผู้ใช้ AES
ลูกค้าที่สนใจในการวิเคราะห์สถานะไฟฟ้า
ลูกค้าที่มีส่วนร่วมในการวิเคราะห์ความล้มเหลวของเซมิคอนดักเตอร์
สินค้าที่เกี่ยวข้อง / การใช้งาน
|
พรีเซนเตอร์ |
โคโนมิ อิคิตะ
ฝ่ายวิจัยและพัฒนา สพฐ. 
|
|---|---|
|
ช่วงเวลาการรับชมตามต้องการ |
วันที่ 10 มีนาคม (อังคาร) ถึง 17 มีนาคม (อังคาร) พ.ศ. 2026
|
|
ค่าธรรมเนียม |
ฟรี |
|
เอกสารประกอบการนำเสนอ |
คุณสามารถดาวน์โหลดเอกสารเหล่านี้ได้หลังจากทำแบบสำรวจหลังการนำเสนอเสร็จเรียบร้อยแล้ว |
|
การบันทึก |
การบันทึกการสัมมนาผ่านเว็บจะถูกโพสต์บน “คลังเก็บวิดีโอสัมมนาออนไลน์” หน้าในภายหลัง |
|
เซสชันถาม & ตอบ |
จะไม่มีช่วงถาม-ตอบหลังการนำเสนอ |
|
ช่องทางการติดต่อ |
อีเมล：sales1[at]jeol.co.jp
|
ลงทะเบียน
การสัมมนาออนไลน์นี้สิ้นสุดลงแล้ว วิดีโอนำเสนอพร้อมให้รับชมในคลังข้อมูลของเราแล้ว หากต้องการรับชมวิดีโอ กรุณาลงทะเบียนด้านล่าง
Movie
กรุณาป้อนข้อมูลของคุณเพื่อย้ายไปยังหน้าภาพยนตร์
คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?
โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป