ไม่ต้องเดาอีกต่อไปในการเตรียมตัวอย่าง TEM
- บรรลุความแม่นยำและประสิทธิภาพด้วยระบบ JIB-PS500i FIB-SEM -

วันวางจำหน่าย: 2025/09/12

JIB-PS500i คือระบบ FIB-SEM ประสิทธิภาพสูงที่ออกแบบมาเพื่อปฏิวัติการเตรียมตัวอย่าง TEM ด้วยการผสานความสามารถในการกัดความแม่นยำสูงเข้ากับการถ่ายภาพ SEM ความละเอียดสูง ทำให้เวิร์กโฟลว์ราบรื่นและมีปริมาณงานสูง ตั้งแต่การผลิตตัวอย่างไปจนถึงการสังเกตการณ์ TEM

งานสัมมนานี้จะจัดขึ้นบนเว็บ คุณสามารถเข้าร่วมได้ไม่เพียงแค่จากพีซีของคุณ แต่ยังสามารถเข้าร่วมจากสมาร์ทโฟนหรือแท็บเล็ตของคุณ ตราบใดที่คุณสามารถเข้าถึงเว็บได้ เราหวังว่าจะมีส่วนร่วมของคุณ

เมื่อเข้าร่วมการสัมมนาผ่านเว็บนี้ คุณจะได้เรียนรู้...

• TEM-LINKAGE: การถ่ายโอนตัวอย่างอย่างราบรื่นระหว่าง FIB และ TEM ด้วยตลับหมึกเอียงคู่

• CHECK-AND-GO: สามารถตัดสินตำแหน่งการประมวลผลและจุดสิ้นสุดได้

• STEMPLING: การเตรียมตัวอย่าง TEM คุณภาพสูงทำได้ง่ายด้วยระบบกึ่งอัตโนมัติ

ใครควรเข้าร่วม?

• บุคคลที่ทำงานอยู่ในสาขาเซมิคอนดักเตอร์

• ผู้ที่เกี่ยวข้องกับวิทยาศาสตร์วัสดุ

• บุคคลที่สนใจด้านเทคโนโลยีชีวภาพ

สินค้าที่เกี่ยวข้อง

JIB-PS500i ระบบ FIB-SEM

พรีเซนเตอร์	อิจิโร่ คาวาโนะ วิศวกรประยุกต์ภาคสนาม FIB ฝ่ายโซลูชั่นระดับโลก ฝ่ายธุรกิจเซมิคอนดักเตอร์ SI บริษัท จอล จำกัด
วันที่/งวด	21 ตุลาคม 2025 (อังคาร) 8:00 ถึง 8:45 น. JST (โตเกียว) 21 ตุลาคม 2025 (อังคาร) 17:00 ถึง 17:45 น. JST (โตเกียว) สัมมนานี้จะจัดขึ้นสองครั้งในวันเดียวกัน กรุณาเข้าร่วมสัมมนาตามเวลาที่สะดวกที่สุดสำหรับคุณ
ค่าธรรมเนียม	ฟรี (รับสมัครตามลำดับก่อนหลัง กรุณาสมัครโดยเร็วที่สุด)
เอกสารประกอบการนำเสนอ	คุณสามารถดาวน์โหลดเอกสารเหล่านี้ได้หลังจากทำแบบสำรวจหลังการนำเสนอเสร็จเรียบร้อยแล้ว
การบันทึก	การบันทึกการสัมมนาผ่านเว็บจะถูกโพสต์บน “ภาพยนต์จาก Webinars ของ JEOL ในอดีต” หน้าในภายหลัง เราจะแจ้งให้คุณทราบผ่าน e-newsletter และโซเชียลมีเดียเมื่อมีการโพสต์การบันทึก
เซสชันถาม & ตอบ	จะไม่มีช่วงถาม-ตอบหลังการนำเสนอ
ช่องทางการติดต่อ	อีเมล：sales1[at]jeol.co.jp ฝ่ายสร้างอุปสงค์ บริษัท จอล จำกัด โปรดใช้ @ สำหรับ [at]

ลงทะเบียน

เว็บสัมมนาครั้งนี้จบลงแล้ว คุณสามารถรับชมบันทึกการสัมมนาได้ด้านล่าง

Movie

กรุณาป้อนข้อมูลของคุณเพื่อย้ายไปยังหน้าภาพยนตร์

หมดปัญหาเรื่องการคาดเดาในการเตรียมตัวอย่างสำหรับ TEM - บรรลุความแม่นยำและประสิทธิภาพด้วยระบบ JIB-PS500i FIB-SEM -