ปิด Btn

เลือกไซต์ภูมิภาคของคุณ

ปิดหน้านี้

IPFA 2026 - การประชุมวิชาการนานาชาติครั้งที่ 33 ของ IEEE ว่าด้วยการวิเคราะห์ทางกายภาพและความล้มเหลวของวงจรรวม

วันที่: 2026/04/08

จัดโดย: IEEE

เราจะร่วมจัดแสดงสินค้าที่งาน IPFA 2026 โปรดแวะมาที่บูธ JEOL (หมายเลขบูธ B23)!

   

วันที่

จันทร์ที่ 13 ก.ค. – พฤหัสบดีที่ 16 ก.ค. 2026

สถานที่จัดงาน

ห้องบอลรูมหลักออร์คิด
ชั้น 4 โรงแรมมารีน่า เบย์ แซนด์ส
10 เบย์ฟรอนต์ อเวนิว สิงคโปร์ 018956
เข้า

หมายเลขบูธ

B23

ช่องทางการติดต่อ

อีเมล : jeol_event[at]jeol.co.jp
ฝ่ายสร้างอุปสงค์
บริษัท จอล จำกัด

  • หมายเหตุ: โปรดใช้ @ สำหรับ [at]

เนื้อหาของนิทรรศการ

ระบบเลเซอร์ SEM LazEdge

JEM-ARM200F NEOARM กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนเชิงวิเคราะห์ความละเอียดอะตอม

JIB-PS500i ระบบ FIB-SEM

รุ่น JSM-IT810 Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope

JSM-IT210 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด

IB-19540CP CROSS SECTION POLISER™
เครื่องขัดเงาหน้าตัดระบายความร้อน IB-19550CCP™

ปิดหน้านี้
แจ้งให้ทราบ

คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?

โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป